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Design for Testability and Hardware Security
可测试性和硬件安全性设计
基本信息
- 批准号：RGPIN-2017-04926
- 负责人：
- 金额：$ 1.75万
- 依托单位：
- 依托单位国家：加拿大
- 项目类别：Discovery Grants Program - Individual
- 财政年份：2021
- 资助国家：加拿大
- 起止时间：2021-01-01 至 2022-12-31
- 项目状态：已结题
- 来源：
- 关键词：
项目摘要
Built-in Self-Test (BIST); Design for Hardware Security and Trust; Design-for-Testability (DFT); Secure Tests for 3D ICs; Test for Smart Sensors and MEMS Devices; Test Methodologies for Analog/RF Circuits; VLSI Circuit Design
内置自检(BIST)；硬件安全和可信设计；可测试性设计(DFT)；3D IC的安全测试；智能传感器和MEMS设备的测试；模拟/射频电路的测试方法；VLSI电路设计
项目成果
期刊论文数量（0）
专著数量（0）
科研奖励数量（0）
会议论文数量（0）
专利数量（0）
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