Doppelkorrigiertes analytisches TEM/STEM

“Mit dem Wissenschaftschwerpunkt Neue Materialien und Prozesse hat die Universität Erlangen-Nürnberg einen strategischen Fokus auf interdisziplinäre Materialforschung zwischen Natur- und Ingenieurswissenschaften gelegt.这一点在先进材料工程（EXC 315）中得到了广泛的应用。Hochauflösenden elektronenmikroskopischen Charakterisierungsverfahren stellen einen wichtigen Querschnittsbereich der Erlangener Materialforschung dar und韦尔登从AG Elektronenmikroskopie in neugegründeten Center for Nanoanalysis and Electron Microscopy（CENEM）intensiv eingesetzt.自2009年以来，AG已经开始实施TEM/STEM，并在垂直项目中取得了巨大的成就。在高通量分析中，尽管也有原位微通道，但仍有一个TEM/STEM和Beleuchtungssystem中的Korrektor，一个带高分辨率的激光束的Quelle，一个高能量流（单色光，高通量EEL-Spektrometer）和一个大通量EDX-Detektor（用于schnelle Mappings和高灵敏度）。Das beantragte doppeltkorrigierte Gerät verint diese Möglichkeiten und soll das bestehende ersetzen（Rücknahme durch den Hersteller）.一个令人困惑的能量过滤器安装在一个新的韦尔登上。“

„Mit dem Wissenschaftsschwerpunkt Neue Materialien und Prozesse hat die Universität Erlangen-Nürnberg einen strategischen Fokus auf interdisziplinäre Materialforschung zwischen Natur- und Ingenieurswissenschaften gelegt. Dieser manifestiert sich im Exzellenzcluster Engineering of Advanced Materials (EXC315) sowie zahlreichen weiteren Verbundprojekten. Die hochauflösenden elektronenmikroskopischen Charakterisierungsverfahren stellen einen wichtigen Querschnittsbereich der Erlangener Materialforschung dar und werden von der AG Elektronenmikroskopie im neugegründeten Center for Nanoanalysis and Electron Microscopy (CENEM) intensiv eingesetzt. Seit 2009 betreibt die AG ein einfachkorrigiertes TEM/STEM und bringt dies erfolgreich in verschiedene Verbundprojekte ein. Um die stark zunehmenden Fragestellungen in der hochauflösenden Analytik, aber auch der in-situ Mikroskopie adressieren zu können, wird ein TEM/STEM mit Korrektor im Beleuchtungssystem, einer Quelle mit erhöhtem Richtstrahlwert, einer hohen Energieauflösung (Monochromator, hochauflösendes EEL-Spektrometer) und einem großflächigen EDX-Detektor (für schnelle Mappings und hohe Sensitivität) benötigt. Das beantragte doppeltkorrigierte Gerät vereint diese Möglichkeiten und soll das bestehende ersetzen (Rücknahme durch den Hersteller). Ein bereits bewilligtes abbildendes Energiefilter soll im gleichen Zuge beschafft und am neuen Gerät installiert werden.“