Nutzung lateraler Vibrationen und Oszillationen von AFM-Cantilevern zur Durchführung von Nanomanipulationen (NanoLatVib)

基于原子力显微镜（AFM）的自动纳米操作系统的研究进展。纳米操纵（纳米操纵）、纳米振动（纳米振动）、纳米振动（纳米振动）、纳米振动（纳米振动）、纳米振动（纳米振动）、纳米振动（纳米振动）、纳米振动（纳米振动）。Möglicherweise können stark [m]基材半倾斜物体[j] .横向振动与可动性研究。费南。悬臂梁横向振动研究，呃längliche。研究方向：横向线与悬臂- spitze平行的振动特性研究[längliche]。在新触发Zirkularmanipulations- Modus风vorgeschlagen， mit desdeshilfe纳米粒子sehr控制和verschoben werden können。在Aufbau压阻悬臂梁振动检测中，悬臂梁横向振动检测ermöglicht风。[3] [j] .原子力显微镜下的横向振动[m] . spitze；

Ziel des Projektes ist die Erweiterung und Erforschung eines auf Atomic-Force- Microscopy (AFM) basierenden Nanomanipulationsystems. Als Novum zu bereits existierenden Nanomanipulationsaufbauten wird im beantragten Projekt geplant, laterale Oszillationen (nicht-resonant) und laterale Vibrationen (resonant) des AFM-Cantilevers während der Manipulationen zu nutzen. Möglicherweise können stark am Substrat haftende Objekte durch Anwendung von lateralen Vibrationen mobilisiert werden. Ferner sollen laterale Vibrationen des Cantilevers genutzt werden, um längliche Nanoobjekte gezielt zu zerschneiden. Durch Nutzung von lateralen linearen Oszillationen der Cantilever-Spitze parallel zu längliche Nanoobjekten sollen diese zerstörungsfrei manipuliert werden. Ein neuartiger Zirkularmanipulations- Modus wird vorgeschlagen, mit dessen Hilfe Nanopartikel sehr kontrolliert verschoben werden können. Im Aufbau sollen piezoresistive Cantilever verwendet werden, wodurch die Detektion rein lateraler Vibrationen des Cantilevers ermöglicht wird. Die Idee, laterale Vibrationen der AFM-Spitze für Nanomanipulationen zu verwenden, ist unseres Wissens neu.