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Development of Secondary Ion Mass Spectrometry (Sims) For Analysis of Chemical Structures and Bonding

Development of Secondary Ion Mass Spectrometry (Sims) For Analysis of Chemical Structures and Bonding
用于化学结构和键合分析的二次离子质谱 (SIMS) 的开发
批准号：
7915177
负责人：
John Rabalais
金额：
$15.0万
依托单位：
University of Houston
依托单位国家：
美国
项目类别：
Continuing Grant
财政年份：
1979
资助国家：
美国
项目状态：
已结题
起止时间：
1979-11-15 至 1983-04-30
来源：
https://www.nsf.gov/awardsearch/showAward?AWD_ID=7915177&HistoricalAwards=false
关键词：
DevelopmentSecondaryIonMassSpectrometry

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Ion/Atom/Electron Surface Dynamics Using Experimental Coincidence-Correlation Techniques and Theoretical Analysis
  • 批准号：
    0608851
  • 项目类别：
    Continuing Grant
  • 资助金额：
    $48.0万
  • 财政年份：
    2006
  • 负责人：
    John Rabalais
  • 依托单位：
    University of Houston
Coincidence-Correlation Techniques and Theoretical Methods for Ion-Surface Interactions
  • 批准号：
    0303708
  • 项目类别：
    Continuing Grant
  • 资助金额：
    $55.0万
  • 财政年份：
    2003
  • 负责人：
    John Rabalais
  • 依托单位：
    University of Houston
Real Space Surface Crystallography From Scattering and Recoiling Imaging
  • 批准号：
    9986807
  • 项目类别：
    Continuing Grant
  • 资助金额：
    $47.67万
  • 财政年份：
    2000
  • 负责人：
    John Rabalais
  • 依托单位：
    University of Houston
12th International Workshop on Inelastic Ion Surface Collisions
  • 批准号：
    9810121
  • 项目类别：
    Standard Grant
  • 资助金额：
    $0.64万
  • 财政年份：
    1999
  • 负责人：
    John Rabalais
  • 依托单位：
    University of Houston
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