Dual-Beam-FIB

FIB，Eine fokussierte-Lonenstrahl-apparatur(聚焦离子束-FIB)kombiniert MIT einem Rasterelektronenmikroskop st für unseregrundlagen-Wie auch anwendungsoriologieforschung in Richtung der Zukunftstechnologien en Magneto-and Spinelektronik and Magnder Resitire in Richtung der Zukunftstechnologien Magneto-and Spinelektronik and Magnoresitiven Biosensorik vessenzieller NotwenDigkeit。Zudem soll dieses Gerät Dm SFB 613 im zentalen Forschungsprojekt Z1 Zugänglich sein um im kürzlich gegründeten Binas zum einatz kommen.Dadurch soll der Standort Bielefeld der der SFB 613 hinsichtlich lokalpräparativer Nanomaching-Verfahren beGleichzeiTighhenHochauflösender Beobachtung gestärkt den.麻省理工学院在兴布利克的基础上开发了一种新的材料和技术，以此为基础开发新的技术。

Die in diesem Forschungsgroßgeräteantrag beantragte Dual-Beam-FIB, eine fokussierte-lonenstrahl-Apparatur ( Focussed Ion Beam - FIB ) kombiniert mit einem Rasterelektronenmikroskop ist für unseregrundlagen- wie auch anwendungsorientierte Nanotechnologieforschung in Richtung der Zukunftstechnologien Magneto- und Spinelektronik und der magnetoresistiven Biosensorik von essenzieller Notwendigkeit. Zudem soll dieses Gerät dem SFB 613 im zentralen Forschungsprojekt Z1 zugänglich sein um im kürzlich gegründeten BINAS zum Einsatz kommen. Dadurch soll der Standort Bielefeld und der SFB 613 hinsichtlich lokalpräparativer Nanomachining-Verfahren bei gleichzeitiger hochauflösender Beobachtung gestärkt werden. Mit diesem Gerät wird auch eine neue Forschungsrichtung im Hinblick auf die Entwicklung von Gasprecursoren zur Abscheidung von magnetischen Materialien und deren Eigenschaftsuntersuchungen begonnen.