Ionenätzanlage zur Herstellung von Schnittpräparaten für die Elektronenmikroskopie
Ionenätzanlage zur Herstellung von Schnittpräparaten für die Elektronenmikroskopie
批准号:
246348303
负责人:
金额:
$0.0万
依托单位国家:
德国
项目类别:
Major Research Instrumentation
财政年份:
2013
资助国家:
德国
项目状态:
未结题
起止时间:
2012-12-31 至 --
中文摘要
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英文摘要
Die analytische Fragestellungen in der Elektronenmikroskopie beziehen sich erfahrungsgemäß in gut der Hälfte der Fälle auf eine Informationsgewinnung aus dem Tiefenprofil der Probe. Daher muss eine adäquate Präparationsmethode gewählt werden, die ein ungestörtes, also Artefakt freies Profil erstellt. Für Proben, die nicht über ein großes Flächensegment homogen sind, lässt sich nur durch gezieltes Präparieren die gewünschte Profilstelle darstellen. Dabei kann nur durch Einsatz von lonenstrahl-Ätzen ein ungestörtes Profil erstellt werden. Dies gilt insbesondere dann, wenn Proben präpariert werden sollen, die durch ihre Kombination von Materialien sehr unterschiedlicher Natur, z. B. unterschiedlicher Härte, Sprödheit und Elastizität, eine Präparation durch klassisches Zielschleifen und mehrstufiges Polieren, nicht anwendbar machen.“
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科研奖励(0)
会议论文
DOI:
10.1108/ssmt-10-2015-0031
发表时间:
2016-04
期刊:
Soldering & Surface Mount Technology
影响因子:
2
作者:
[Ming Xiao;Walid-Madhat Munief;Fengshun Wu;R. Lilischkis;Tobias Oberbillig;M. Saumer;W. Xia]
通讯作者:
Ming Xiao;Walid-Madhat Munief;Fengshun Wu;R. Lilischkis;Tobias Oberbillig;M. Saumer;W. Xia
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