雑音を用いた金属-GaAs界面近傍の欠陥の測定

使用噪声测量金属-GaAs 界面附近的缺陷

基本信息

  • 批准号:
    06650036
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 1.09万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
  • 财政年份:
    1994
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    1994 至 无数据
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

本研究では、金属-GaAs界面近傍の欠陥を感度良く測定するために、先ず直径0.3μmのショットキ・ダイオードの製作プロセスの改善を行い、次に、深い準位をもつ金を不純物としてGaAs表面に拡散させたダイオードの雑音の測定を試みた。1 従来用いていた電子ビームレジストは、耐ドライエッチ性が十分でないだけでなく、材料にフッ素を含んでいるため、試料表面にポリマーが堆積しやすく、ドライエッチング後のプロセスの不安定性の原因となっていた。このポリマーは、ドライエッチング、表面クリーニング、エピ層陽極酸化-エッチング、ショットキ電極メッキ等の工程で影響を与え、均一性の良いダイオード製作の妨げになっていた。そのため、ダイオードの雑音特性を測定する際、データーの再現性を得ることが困難であった。2 今回新たにノボラック系の電子ビームレジストの供給(試作品)を受け、耐ドライエッチ性が飛躍的に向上していること、ポリマーの堆積も少なくポリマーが酸素プラズマやオゾン等を使用せずともほぼ除去できること、が明らかになり、均一性の良いダイオードを製作できるようになった。3 雑音と金属-GaAs界面近傍の欠陥との関係を定量的に明らかにするため、不純物として金をGaAs表面に拡散させたダイオードを製作した。先ず、温度500度C、1時間の条件で拡散させた場合についてダイオードの雑音特性を測定したが、現在のところ、拡散した金による明らかな雑音特性の変化は観測されていない。今後、拡散の条件を変えたり、不純物としてインジュームを用いた場合について、雑音特性の変化を求め、雑音と欠陥の関係を定量的に明らかにする予定である。
This study で は, metal - nearly alongside の GaAs interface owe 陥 を く determination sensitivity good す る た め に, first ず 0.3 microns in diameter の シ ョ ッ ト キ · ダ イ オ ー ド の making プ ロ セ ス の improve を に, deep い い, times the accurate a を も を つ gold impurity content と し て GaAs surface に company, scattered さ せ た ダ イ オ ー ド の 雑 sound の determination を try み た. 1 従 to use い て い た electronic ビ ー ム レ ジ ス ト は, ド ラ イ エ ッ チ sex が very で な い だ け で な く, material に フ ッ contains を ん で い る た め, sample surface に ポ リ マ ー が accumulation し や す く, ド ラ イ エ ッ チ ン グ after の プ ロ セ ス の labile の reason と な っ て い た. こ の ポ リ マ ー は, ド ラ イ エ ッ チ ン グ, surface ク リ ー ニ ン グ, エ ピ layer anode acidification - エ ッ チ ン グ, シ ョ ッ ト キ electrode メ ッ キ で influence を の engineering and え, good uniformity の い ダ イ オ ー ド making の hinder げ に な っ て い た. そ の た め, ダ イ オ ー ド の 雑 sound を determined す る interstate, デ ー タ ー の reproducibility を have る こ と が difficult で あ っ た. 2 Now back to new た に ノ ボ ラ ッ ク is の electronic ビ ー ム レ ジ ス ト の supply (try) を け, resistance to ド ラ イ エ ッ チ に sexual が leap upward し て い る こ と, ポ リ マ ー の accumulation も less な く ポ リ マ ー が acid element プ ラ ズ マ や オ ゾ ン を use せ ず と も ほ ぼ remove で き る こ と, が Ming ら か に な り, good uniformity の い ダ イ オ ー ド を system Write で で るようになった. Nearly 3 雑 sound と metal - GaAs interface alongside の owe 陥 と の masato を quantitative に and Ming ら か に す る た め, impurity content と し て gold を GaAs surface に company, scattered さ せ た ダ イ オ ー ド を making し た. First ず の conditions, temperature 500 degrees C, 1 time で company, scattered さ せ た occasions に つ い て ダ イ オ ー ド の 雑 sound を determined し た が, now の と こ ろ, company し た gold に よ る Ming ら か な 雑 sound features の variations change は 観 measuring さ れ て い な い. Conditions in the future, the company, scattered の を - え た り, impurity content と し て イ ン ジ ュ ー ム を with い た occasions に つ い て, 雑 features の patches.by - を め, 雑 と owe 陥 の masato を quantitative に and Ming ら か に す る designated で あ る.

项目成果

期刊论文数量(10)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
J.J.Chang: "Fabrication of GaAs Sohottky-Barrier Diodes Mixer/Detector for the Terahertz Region" The 19th International Conterence on Infraved and Millimeter Waves. 35-36 (1994)
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  • DOI:
  • 发表时间:
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    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
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  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
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  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
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  • DOI:
  • 发表时间:
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  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
T.Nozokido: "Optimazed Design of GaAs Sohottpy-Barrier Diodes Mixer/Detector for The Traherty Region" The 19th International Conterence on Infravdd and Millimeter Waves.33-34 (1994)
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    0
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  • 批准号:
    46410-1993
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    1993
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