Production of Large-Diameter-Low Electron Temperature ECR Plasma

大直径低电子温度ECR等离子体的制备

基本信息

  • 批准号:
    12558046
  • 负责人:
  • 金额:
    $ 6.46万
  • 依托单位:
  • 依托单位国家:
    日本
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
  • 财政年份:
    2000
  • 资助国家:
    日本
  • 起止时间:
    2000 至 2001
  • 项目状态:
    已结题

项目摘要

A 300 mm diameter plasma source is required from industry as a next generation semiconductor processing plasma source which operates at few mTorr. An electron cyclotron resonance plasma has paid much attention because it provides a high density plasma at low pressure. However, usually it is hard to produce a large diameter plasma with ECR, that is, the uniformity of ECR plasma strongly depends on magnetic field gradient, pressure, microwave powers and so on. Now a 200 mm diameter ECR plasma is mainly used. Furthermore, charging effect also becomes an important problem to solve. Thus, a large diameter-low electron temperature plasma is needed for plasma processing. Here, in order to realize a 300 mm diameter ECR plasma, we carried out the experiments on a large diameter-low electron temperature ECR plasma production using TM_<01> mode of 900 MHz as well as TE_<10> mode of 2.45 GHz,. The main results are as follows :(1) The upper hybrid wave resonance played an important role in ECR plasma uniformity. A uniform plasma of 300 mm in diameter was realized by controlling the microwave power, where the electron density was higher than 10^<11>cm^<-3>.(2) We succeeded in producing a low electron temperature plasma using the magnetic mirror. N_2 plasma with Te<2 eV was realized at the sloat using the magnetic mirror. Furthermore, the physical mechanism for low electron temperature production was discussed using the power and particle balance equations.(3) A powerful method to measure the negative ion density was proposed using the probe.(4) We succeeded in measuring the ion temperature in the ECR plasma with the optical emission spectroscopy, providing Ti<0.2 eV.These results contribute to producing a next generation plasma for plasma processing such as semiconductor processing devices.
工业上需要300 mm直径的等离子体源作为下一代半导体加工等离子体源,其在几毫托下操作。电子回旋共振等离子体由于能在低气压下产生高密度等离子体而受到广泛关注。然而,通常情况下,ECR等离子体很难产生大直径的等离子体,即ECR等离子体的均匀性强烈地依赖于磁场梯度、气压、微波功率等,目前主要采用直径为200 mm的ECR等离子体。此外,充电效应也成为一个需要解决的重要问题。因此,等离子体处理需要大直径低电子温度等离子体。为了实现直径300 mm的ECR等离子体,我们利用900 MHz的TM模和2.45 GHz的TE模,进行了大直径低电子温度ECR等离子体的产生实验<01><10>。主要结果如下:(1)上杂波共振对ECR等离子体的均匀性起着重要的作用。通过控制微波功率,实现了直径为300 mm的均匀等离子体,其中电子密度高于10 μ <11>cm-3<-3>。(2)我们成功地利用磁镜产生了低电子温度等离子体。利用磁镜在狭缝处实现了Te&lt;2 eV的N_2等离子体。利用功率平衡和粒子平衡方程讨论了低电子温度产生的物理机制。(3)提出了一种利用该探针测量负离子浓度的有效方法。(4)我们成功地测量了ECR等离子体中的离子温度与光学发射光谱,提供Ti&lt;0.2 eV。这些结果有助于产生下一代等离子体加工,如半导体加工设备。

项目成果

期刊论文数量(38)
专著数量(0)
科研奖励数量(0)
会议论文数量(0)
专利数量(0)
N. Itagaki et al.: "Investigation of ECR Plasma Uniformity from the Point of View of Production and Confinement"Thin Solid Films. 386. 152-159 (2001)
N. Itagaki 等人:“从生产和限制的角度研究 ECR 等离子体均匀性”固体薄膜。
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
N.Itagaki: "Production of Low-Electron Temperature Electron Cyclotron Resonance Plasma Using Nitrogen Gas in the Mirror Magnetic Field"Jpn. J. Appl. Phys.. 40・4A. 2489-2494 (2001)
N.Itagaki:“在镜磁场中使用氮气产生低电子温度电子回旋共振等离子体”Jpn. J. Appl. 2489-2494 (2001)
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
M. Shindo et al.: "Estimate of the Negative-Ion Density in O2/Ar ECR Plasma Utilizing Ion Acoustic Wave"J. Phys. Soc. Jpn.. 70, 3. 621-623 (2001)
M. Shindo 等人:“利用离子声波估计 O2/Ar ECR 等离子体中的负离子密度”J。
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
N. Itagaki et al.: "Production of Low Electron Temperature ECR Plasma for Plasma Processing"Thin Solid Films. 390. 202-207 (2001)
N. Itagaki 等人:“用于等离子体处理的低电子温度 ECR 等离子体的生产”固体薄膜。
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
N.Itagaki: "Investigation of ECR Plasma Uniformity from the Point of View of Production and Confinement"Thin Solid Films. 386. 152-159 (2001)
N.Itagaki:“从生产和限制的角度研究 ECR 等离子体均匀性”固体薄膜。
  • DOI:
  • 发表时间:
  • 期刊:
  • 影响因子:
    0
  • 作者:
  • 通讯作者:
{{ item.title }}
{{ item.translation_title }}
  • DOI:
    {{ item.doi }}
  • 发表时间:
    {{ item.publish_year }}
  • 期刊:
  • 影响因子:
    {{ item.factor }}
  • 作者:
    {{ item.authors }}
  • 通讯作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ journalArticles.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ monograph.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ sciAawards.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ conferencePapers.updateTime }}

{{ item.title }}
  • 作者:
    {{ item.author }}

数据更新时间:{{ patent.updateTime }}

KAWAI Yoshinobu其他文献

KAWAI Yoshinobu的其他文献

{{ item.title }}
{{ item.translation_title }}
  • DOI:
    {{ item.doi }}
  • 发表时间:
    {{ item.publish_year }}
  • 期刊:
  • 影响因子:
    {{ item.factor }}
  • 作者:
    {{ item.authors }}
  • 通讯作者:
    {{ item.author }}

{{ truncateString('KAWAI Yoshinobu', 18)}}的其他基金

Experiment on Chaos Control of Plasma Wave
等离子体波混沌控制实验
  • 批准号:
    12480121
  • 财政年份:
    2000
  • 资助金额:
    $ 6.46万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
Chaotic Phenomena in Unstable System
不稳定系统中的混沌现象
  • 批准号:
    08458110
  • 财政年份:
    1996
  • 资助金额:
    $ 6.46万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
Development of the Device for Producing a Large Area Thin Film by a New Maicrowave Mode
新型微波模式大面积薄膜制备装置的研制
  • 批准号:
    07558180
  • 财政年份:
    1995
  • 资助金额:
    $ 6.46万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
Chaotic Process in Plasma Wave System
等离子体波系统的混沌过程
  • 批准号:
    06452425
  • 财政年份:
    1994
  • 资助金额:
    $ 6.46万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for General Scientific Research (B)
Study of nonlinear behaviors of plasmas
等离子体非线性行为的研究
  • 批准号:
    03302056
  • 财政年份:
    1991
  • 资助金额:
    $ 6.46万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Co-operative Research (A)
Nonlinear Waves in a Finite Plasma
有限等离子体中的非线性波
  • 批准号:
    63580013
  • 财政年份:
    1988
  • 资助金额:
    $ 6.46万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
Production of a Large Diameter Plasma with a Lisitano Coil
使用 Lisitano 线圈生产大直径等离子体
  • 批准号:
    63880002
  • 财政年份:
    1988
  • 资助金额:
    $ 6.46万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Developmental Scientific Research

相似海外基金

Statistical process control for semiconductor process
半导体工艺的统计过程控制
  • 批准号:
    25750120
  • 财政年份:
    2013
  • 资助金额:
    $ 6.46万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
Three-dimensional stress and Si-Ge interdiffusion modeling for semiconductor process simulation software CSUPREM
半导体工艺仿真软件 CSUPREM 的三维应力和 Si-Ge 相互扩散建模
  • 批准号:
    396181-2010
  • 财政年份:
    2011
  • 资助金额:
    $ 6.46万
  • 项目类别:
    Collaborative Research and Development Grants
Three-dimensional stress and Si-Ge interdiffusion modeling for semiconductor process simulation software CSUPREM
半导体工艺仿真软件 CSUPREM 的三维应力和 Si-Ge 相互扩散建模
  • 批准号:
    396181-2010
  • 财政年份:
    2010
  • 资助金额:
    $ 6.46万
  • 项目类别:
    Collaborative Research and Development Grants
Development and application of totally low-temperature semiconductor process using atmospheric-pressure plasma
常压等离子体全低温半导体工艺的开发与应用
  • 批准号:
    19206018
  • 财政年份:
    2007
  • 资助金额:
    $ 6.46万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
SBIR Phase II: A Trace Contaminant Sensor for Semiconductor Process Gases
SBIR 第二阶段:用于半导体工艺气体的痕量污染物传感器
  • 批准号:
    9983349
  • 财政年份:
    2000
  • 资助金额:
    $ 6.46万
  • 项目类别:
    Standard Grant
Robust and Scalable On-Line NDP Designs and Applications to Semiconductor Process Optimization
稳健且可扩展的在线 NDP 设计及其在半导体工艺优化中的应用
  • 批准号:
    0002098
  • 财政年份:
    2000
  • 资助金额:
    $ 6.46万
  • 项目类别:
    Standard Grant
Development of highly sensitive analysis technique for semiconductor process induced contamination impurities
开发半导体工艺引起的污染杂质的高灵敏度分析技术
  • 批准号:
    11694157
  • 财政年份:
    1999
  • 资助金额:
    $ 6.46万
  • 项目类别:
    Grant-in-Aid for Scientific Research (A)
SBIR Phase I: A Trace Contaminant Sensor for Semiconductor Process Gases
SBIR 第一阶段:用于半导体工艺气体的痕量污染物传感器
  • 批准号:
    9860484
  • 财政年份:
    1999
  • 资助金额:
    $ 6.46万
  • 项目类别:
    Standard Grant
Grid Optimization and Adaptation in Semiconductor Process and Device Problems
半导体工艺和器件问题中的网格优化和适应
  • 批准号:
    9412475
  • 财政年份:
    1995
  • 资助金额:
    $ 6.46万
  • 项目类别:
    Standard Grant
On-Line Analysis of Trace Heavy Metals in Semiconductor Process Liquid Using an Ultramicroelectrode (UME) System
使用超微电极 (UME) 系统在线分析半导体工艺液体中的痕量重金属
  • 批准号:
    9461869
  • 财政年份:
    1995
  • 资助金额:
    $ 6.46万
  • 项目类别:
    Standard Grant
{{ showInfoDetail.title }}

作者:{{ showInfoDetail.author }}

知道了