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表面顕微鏡法による表面観察と解析

表面顕微鏡法による表面観察と解析
使用表面显微镜进行表面观察和分析
批准号：
01609501
负责人：
八木 克道
金额：
$27.2万
依托单位：
Tokyo Institute of Technology
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
财政年份：
1989
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
1989 至 --
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-01609501/
关键词：
表面顕微鏡光電子顕微鏡シリコン表面STM反射電顕法エレクトロマイグレ-ション微粒子

项目摘要

项目成果

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超高真空電顕法により、表面エレクトロマイグレ-ションの観察を行い、形成分域の単分域化の観察を行った。又下地表面、吸着表面の異方性に依存したマイグレ-ションの異方性の観察を行った。清掃表面においても電流に依存して表面構造が変化する様子をシリコン(111)面および(001)面についている時電顕法で観察し、表面構造の変化の詳細を観察した。2次元吸着合理相の作製の試みをAu-Cu,Ag-Cu系で行い、Au-Cu系で√<3>構造が形成されるのを見い出した。これはCu-Au相互作用とそれぞれの原子の下地との相互作用によって作られるものである。一方、Ag-Cuでは相互作用が弱いために表面合金吸着構造は出来ない。電子光電子顕微鏡は、電顕の超高真空化と光電子像観察のための整備を行った。STMと電顕の組みあわせを行い、表面像を得るのに成功すると同時に、超微粒子の表面構造をAuとGeで観察するのに成功した。電界放射顕微法、電界イオン顕微法と電子エネルギ-分析の組み合せに成功し、表面像とともにその場所での電子状態の分析も得られるようになった。これをモリブデン-シリコン系に応用した。電子線ホログラフィ-は回折理論と結像理論を用いてシュミレ-シュン法を確立させ、表面像を得るときの問題点をあきらかにすることが出来た。
期刊论文(14)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
高柳邦夫: "On the Structure and Stability of Small Metal Particles:High Resulution Electron Microscope Study" Z.Phuo.D. 12. 45-51 (1989)
Kunio Takayanagi：“关于小金属颗粒的结构和稳定性：高分辨率电子显微镜研究”Z.Phuo.D. (1989)
DOI： --
发表时间：
期刊：
影响因子： --
作者： []
通讯作者：
丹司敬義: "高分解能電子線ホログラフィ-のシミュレ-ソ由ン" 応用物理. 59. 18-26 (1990)
Takayoshi Tanji：“高分辨率电子束全息术的模拟”应用物理 59. 18-26 (1990)。
DOI： --
发表时间：
期刊：
影响因子： --
作者： []
通讯作者：
西川治: "Correlation of Si Surfaces and Profiles of Tip Apex" J.Vac.Sci.Tech. A8. 222-225 (1990)
Osamu Nishikawa：“硅表面和尖端轮廓的相关性”J.Vac.Sci.Tech A8。
DOI： --
发表时间：
期刊：
影响因子： --
作者： []
通讯作者：
八木克道: "REM Observation an Conversion between Single-Domain Surface of Si(001)zxiland 1×2 Induced by Specimen Heating Current" Jpn.J.Appl.Phys.28. 858-861 (1989)
Katsumichi Yagi：“REM 观察样品加热电流引起的 Si(001)zxi 和 1×2 单域表面之间的转换”Jpn.J.Appl.Phys.28 (1989)。
DOI： --
发表时间：
期刊：
影响因子： --
作者： []
通讯作者：
共 7 条
    表面、界面-異なる対称性の接点の物性
    • 批准号：
      08NP1201
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Creative Basic Research
    • 资助金额：
      $0.0万
    • 财政年份：
      1996
    • 负责人：
      八木 克道
    • 依托单位：
      Tokyo Institute of Technology
    表面・界面-異なる対称性の接点の物性
    • 批准号：
      09NP1201
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Creative Basic Research
    • 资助金额：
      $0.0万
    • 财政年份：
      1996
    • 负责人：
      八木 克道
    • 依托单位：
      Tokyo Institute of Technology
    表面・界面-異なる対称性の接点の物性
    • 批准号：
      07NP1501
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Creative Basic Research
    • 资助金额：
      $0.0万
    • 财政年份：
      1995
    • 负责人：
      八木 克道
    • 依托单位：
      Tokyo Institute of Technology
    表面における光化学反応過程のREM-PEEM観察
    • 批准号：
      06239221
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
    • 资助金额：
      $1.41万
    • 财政年份：
      1994
    • 负责人：
      八木 克道
    • 依托单位：
      Tokyo Institute of Technology
    海外基金