课题基金 / 基金详情

表面顕微鏡法による表面の観察と解析

表面顕微鏡法による表面の観察と解析
使用表面显微镜进行表面观察和分析
批准号：
62609511
负责人：
八木 克道
金额：
$1.41万
依托单位：
Tokyo Institute of Technology
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
财政年份：
1987
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
1987 至 --
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-62609511/
关键词：
表面顕微鏡光電子顕微鏡シリコン表面アトムプローブSTM反射電顕法表面エレクトロマイグレーション

项目摘要

项目成果

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中文摘要
翻译
本研究は, (1)電子, 光電子顕微鏡法の開発とその表面研究への応用, (2)STM型電子顕微鏡法による表面に局存した電子状態の観察, (3)FIMによる吸着膜の構造の観察の3つよりなる. それぞれ今年度は計画の年であるので, 今年度の実績は既存の研究装置による研究成果である. 八木らは, SiCIII)面に酸素をさらしたときの表面構造の変化を調べ, SiOの形成と界章によるくぼみ形成から表面拡散に関する知見を得た. またPt上に成長したAu層のコントラストを動力学回折理論を用いて解析した. その結果コントラストはPtPy間に比べてPt-Au層間の間隔が広いためであることが解った. 一方, 重点領域へ他の研究者との協力を得て表面エレクトロマイグレーションの反射電顕法による観察を行い, Auの場合5×1構造が電流と逆方向にしTuの場合5×1構造が電流の方向に移動するのが観察された. 高柳らは, 反射電顕法を用いて相変態, 吸着過程を調べた. 特にPdの^<83>構造はTuBt層となっていることをはじめて見い出した. 一方現在開発中のSTMについては原子しベルの分確能があることを確認している. 西川らはポリピロールの酸化のミクロプロセスをアトムプローブFIMで解析して新しい知見をえている.
英文摘要
本研究は, (1)電子, 光電子顕微鏡法の開発とその表面研究への応用, (2)STM型電子顕微鏡法による表面に局存した電子状態の観察, (3)FIMによる吸着膜の構造の観察の3つよりなる. それぞれ今年度は計画の年であるので, 今年度の実績は既存の研究装置による研究成果である. 八木らは, SiCIII)面に酸素をさらしたときの表面構造の変化を調べ, SiOの形成と界章によるくぼみ形成から表面拡散に関する知見を得た. またPt上に成長したAu層のコントラストを動力学回折理論を用いて解析した. その結果コントラストはPtPy間に比べてPt-Au層間の間隔が広いためであることが解った. 一方, 重点領域へ他の研究者との協力を得て表面エレクトロマイグレーションの反射電顕法による観察を行い, Auの場合5×1構造が電流と逆方向にしTuの場合5×1構造が電流の方向に移動するのが観察された. 高柳らは, 反射電顕法を用いて相変態, 吸着過程を調べた. 特にPdの^<83>構造はTuBt層となっていることをはじめて見い出した. 一方現在開発中のSTMについては原子しベルの分確能があることを確認している. 西川らはポリピロールの酸化のミクロプロセスをアトムプローブFIMで解析して新しい知見をえている.
期刊论文(1)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
西川 治: J.Chem.Phys.85. 6758-6764 (1986)
西川修：J.Chem.Phys.85 6758-6764 (1986)。
DOI： --
发表时间：
期刊：
影响因子： --
作者： []
通讯作者：
表面、界面-異なる対称性の接点の物性
  • 批准号：
    08NP1201
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Creative Basic Research
  • 资助金额：
    $0.0万
  • 财政年份：
    1996
  • 负责人：
    八木 克道
  • 依托单位：
    Tokyo Institute of Technology
表面・界面-異なる対称性の接点の物性
  • 批准号：
    09NP1201
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Creative Basic Research
  • 资助金额：
    $0.0万
  • 财政年份：
    1996
  • 负责人：
    八木 克道
  • 依托单位：
    Tokyo Institute of Technology
表面・界面-異なる対称性の接点の物性
  • 批准号：
    07NP1501
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Creative Basic Research
  • 资助金额：
    $0.0万
  • 财政年份：
    1995
  • 负责人：
    八木 克道
  • 依托单位：
    Tokyo Institute of Technology
表面における光化学反応過程のREM-PEEM観察
  • 批准号：
    06239221
  • 项目类别：
    Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
  • 资助金额：
    $1.41万
  • 财政年份：
    1994
  • 负责人：
    八木 克道
  • 依托单位：
    Tokyo Institute of Technology
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