パラメトリックX線を用いた波長スキャンを行わないXAFS解析法の検討

使用参数 X 射线检验无需波长扫描的 XAFS 分析方法

• 批准号: 17760059
• 负责人: 森 啓
• 金额: $ 2.18万
• 依托单位: Nihon University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
• 财政年份: 2005
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2005 至 2006
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-17760059/
• 关键词: 放射線; XAFS; 計測光学; パラメトリックX線; パラメトリックX線放射; エネルギー分布; X線吸収微細構造(XAFS); イメージング; ケミカルシフト

前年度に行ったエネルギー分布の測定結果を用いて銅を中心とした試料(純銅、合金、水溶液を固めたもの)とL吸収端が銅のK吸収端に近いイットリビウムを用いて吸収法によるX線吸収微細構造(XAFS)の測定を行った。イメージングデバイスとして空間分解能が悪いが広い範囲をカバーできるイメージングプレートと空間分解能が高いが視野の狭いCCDを用いて測定した。その結果、イオン化によりエネルギーシフトが生じること、合金にすることで広域X線吸収微細構造(EXAFS)領域での振動波形が変化することが確認でき、希少金属を測定する際に、容易に入手できる他金属をエネルギーの基準として利用できることが判明した。また、空間分解能の高いCCDを用いて測定することで各スピン軌道の影響と考えられる波形を確認した。この結果はまとめて国際会議SRI2006で発表すると共に、American Institute of Physics誌に掲載された。この際均一な試料を得にくいこと及び特にイメージングプレートで画像のぼやけが問題となった。試料の均一性について試料を振動させることでその影響を抑えられることが判明した。また、事前に吸収端より低エネルギー側で撮影して、その透過度から資料の厚さの分布を測定して後で補正する方法も可能性が示唆された。ぼやけについてその後検討を進めて結果、試料からの蛍光X線の放出であることが判明し、試料とデバイスを60mm離すことで蛍光X線の影響を5%以下に抑えられる結果が得られた。エネルギーが約9keV以上の空気での吸収の影響が少ない領域ではPXRの線源そのものに志向性があるので試料とイメージングデバイスを十分離せば精度良く測定できることが示された。

In the previous year, the results of the determination of the distribution of carbon dioxide in the center of the laboratory were used to determine the performance of the bank by means of the absorption method of X-ray absorption microfabrication (XAFS). The temperature range of the space decomposition system is very high. The temperature range of the space decomposition is very high. The temperature range of the space decomposition is very high. The temperature of the CCD is measured by the temperature measurement. The result of the experiment, the result of the experiment, the computer system, the X-ray absorption micrometer (EXAFS) of the alloy alloy, the wave shape of the vibration, the confirmation of the temperature, the determination of the metal, and the determination of the metal, it is easy to determine the performance of other metal samples by means of the optical microscope. The system and space decomposition can be used to determine the accuracy of the waveform in the CCD system. The results indicate that the SRI2006 table of the International Conference on International Conference (SRI2006) is in agreement with the international community, and the American Institute of Physics agreement is very important. On the basis of the international uniform information, we can get the information and information about the image of the picture. The uniformity of the material, the vibration of the material, the effect of the material, the uniformity of the material, the vibration, the difference, the difference. It is necessary to measure the thickness of the data, the distribution of the data, the thickness of the data, the distribution of the data, and the possibility of the method to determine the possibility of the method. In the final analysis, the results were improved, the results were determined by the emission of X-rays, and the results showed that the results were good. The results showed that the 60mm images were less than 5%, and the results were satisfactory. The accuracy of the 9keV is much higher than that of the PXR source. The accuracy of the measurement is very high.

项目成果

Tunable Monochromatic X-ray Source Based on Parametric X-ray Radiation at LEBRA, Nihon University

日本大学 LEBRA 基于参数 X 射线辐射的可调谐单色 X 射线源

• 发表时间: 2007
• 期刊: American Institute of Physics CP879
• 作者: Akira Mori et al.;Yasushi Hayakawa et al.
• 通讯作者: Yasushi Hayakawa et al.

Status of the parametric X-ray generator at LEBRA, Nihon University

日本大学LEBRA参数X射线发生器的现状

• 发表时间: 2006
• 期刊: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. B 252
• 作者: Akira Mori et al.;Yasushi Hayakawa et al.;Akira Mori et al.;Yasushi Hayakawa et al.
• 通讯作者: Yasushi Hayakawa et al.

Dispersive XAFS Image radiograph By Parametric-X-ray Radiation

通过参数 X 射线辐射进行色散 XAFS 图像射线照相

• 发表时间: 2007
• 期刊: American Institute of Physics CP879
• 作者: Akira Mori et al.

Measurement of the Energy Distribution of Parametric X-ray Radiation from a Double-Crystal System

双晶系统参量 X 射线辐射能量分布的测量

• 发表时间: 2006
• 期刊: Nuclear Instruments and Methods in Physics Research. B 252
• 作者: Akira Mori et al.;Yasushi Hayakawa et al.;Akira Mori et al.
• 通讯作者: Akira Mori et al.