课题基金 / 基金详情

Development and application of a holographic method for the analysis of interfaces with atomic resolution using X-ray CTR scattering

Development and application of a holographic method for the analysis of interfaces with atomic resolution using X-ray CTR scattering
利用 X 射线 CTR 散射分析原子分辨率界面的全息方法的开发和应用
批准号：
22360018
负责人：
TAKAHASHI Toshio
金额：
$12.4万
依托单位：
The University of Tokyo
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份：
2010
资助国家：
日本
项目状态：
已结题
起止时间：
2010 至 2012
来源：
https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-22360018/
关键词：
X線回折表面・界面位相問題ホログラフィ放射光超薄膜トポロジカル絶縁体結晶成長放射線直接法CTR散乱

项目摘要

项目成果

TAKAHASHI Toshio的其他基金

相似基金

相关文献

中文摘要
翻译
本文提出了一种利用全息法和迭代相位反演法从x射线CTR散射分析中获得衬底上超薄膜界面结构的新方法。该方法可获得衬底上超薄薄膜的原子间层距离、电子密度及其在各原子层中的分布。结果为电子态和晶体生长机制提供了有价值的信息。
英文摘要
A new method for obtaining the interface structure of ultra-thin films on substrates from the analysis of X-Ray CTR scattering has been developed with a holographic method and iterative phase retrieval methods. In the method, inter-atomic layer distances, electron density and its distribution in each atomic layer are obtained for ultra-thin films on substrate. The results give valuable information on electronic states and crystal growth mechanisms.
期刊论文(0)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
Molecular Arrangement of Pentacene Ultrathin Film Studied with Surface X-ray Scattering
用表面X射线散射研究并五苯超薄膜的分子排列
DOI： --
发表时间： 2012
期刊：
影响因子： --
作者： [福元博之, 青木悠樹, 平山博之, 白澤徹郎]
通讯作者： 白澤徹郎
X線CTR散乱法によるPr1.1Ba1.9Cu3O7-δ/SrTiO界面構造解析
X射线CTR散射法分析Pr1.1Ba1.9Cu3O7-δ/SrTiO界面结构
DOI： --
发表时间： 2010
期刊：
影响因子： --
作者： [戸村　有佑、 蓮沼　隆、 山部　紀久夫, 右田　真司, Masayuki Furuhashi and Jun Yoshinobu, 白澤徹郎]
通讯作者： 白澤徹郎
Bi2Te3上のBi超薄膜の電子状態と表面構造解析
Bi2Te3上超薄Bi薄膜的电子态和表面结构分析
DOI： --
发表时间： 2012
期刊：
影响因子： --
作者： [S. Yusa, M. Inoue, Y. Morishima, 平原徹]
通讯作者： 平原徹
Quick Measurement of Crystal TruncationRod Profiles in SimultaneousMulti-Wavelength Dispersive Mode
同步多波长色散模式下晶体截断棒轮廓的快速测量
DOI： 10.1063/1.3661656
发表时间： 2011
期刊： J. Appl. Phys.
影响因子： --
作者： [T. Matsushita, T. Takahashi, T. Shirasawa, E. Arakawa, H. Toyokawa and H. Tajiri]
通讯作者： H. Toyokawa and H. Tajiri
共 40 条
    Surface X-ray diffraction studies of ultrathin films and their structural changes from bulk crystals
    • 批准号：
      16H03866
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
    • 资助金额：
      $10.73万
    • 财政年份：
      2016
    • 负责人：
      TAKAHASHI Toshio
    • 依托单位：
      Tokyo Gakugei University
    Analysis of precise electron density of topological insulator thin films by applying direct methods to surface X-ray diffraction
    Study on the one-dimensional structure of metals on semiconductor surfaces and buried interfaces
    • 批准号：
      16360017
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
    • 资助金额：
      $8.96万
    • 财政年份：
      2004
    • 负责人：
      TAKAHASHI Toshio
    • 依托单位：
      The University of Tokyo
    Representations of "Poverty" "Misery" and "Cruelty" in Modern Literature : Research through Media Discourse
    • 批准号：
      14510471
    • 项目类别：
      Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
    • 资助金额：
      $2.05万
    • 财政年份：
      2002
    • 负责人：
      TAKAHASHI Toshio
    • 依托单位：
      Waseda University
    海外基金