Development and application of a holographic method for the analysis of interfaces with atomic resolution using X-ray CTR scattering

利用 X 射线 CTR 散射分析原子分辨率界面的全息方法的开发和应用

• 批准号: 22360018
• 负责人: TAKAHASHI Toshio
• 金额: $ 12.4万
• 依托单位: The University of Tokyo
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
• 财政年份: 2010
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2010 至 2012
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-22360018/
• 关键词: X線回折; 表面・界面; 位相問題; ホログラフィ; 放射光; 超薄膜; トポロジカル絶縁体; 結晶成長; 放射線; 直接法; CTR散乱

A new method for obtaining the interface structure of ultra-thin films on substrates from the analysis of X-Ray CTR scattering has been developed with a holographic method and iterative phase retrieval methods. In the method, inter-atomic layer distances, electron density and its distribution in each atomic layer are obtained for ultra-thin films on substrate. The results give valuable information on electronic states and crystal growth mechanisms.

本文提出了一种用全息法和迭代相位恢复法从X射线CTR散射分析中获得基片上超薄膜界面结构的新方法。在该方法中，得到了基片上超薄薄膜的原子层间距、电子密度及其在各原子层中的分布。结果提供了有价值的信息的电子状态和晶体生长机制。

项目成果

Molecular Arrangement of Pentacene Ultrathin Film Studied with Surface X-ray Scattering

用表面X射线散射研究并五苯超薄膜的分子排列

• 发表时间: 2012
• 作者: 福元博之;青木悠樹;平山博之;白澤徹郎
• 通讯作者: 白澤徹郎

X線CTR散乱法によるPr1.1Ba1.9Cu3O7-δ/SrTiO界面構造解析

X射线CTR散射法分析Pr1.1Ba1.9Cu3O7-δ/SrTiO界面结构

• 发表时间: 2010
• 作者: 戸村 有佑、 蓮沼 隆、 山部 紀久夫;右田 真司;Masayuki Furuhashi and Jun Yoshinobu;白澤徹郎
• 通讯作者: 白澤徹郎

Bi2Te3上のBi超薄膜の電子状態と表面構造解析

Bi2Te3上超薄Bi薄膜的电子态和表面结构分析

• 发表时间: 2012
• 作者: S. Yusa;M. Inoue;Y. Morishima;平原徹
• 通讯作者: 平原徹

Quick Measurement of Crystal TruncationRod Profiles in SimultaneousMulti-Wavelength Dispersive Mode

同步多波长色散模式下晶体截断棒轮廓的快速测量

• DOI: 10.1063/1.3661656
• 发表时间: 2011
• 期刊: J. Appl. Phys.
• 作者: T. Matsushita;T. Takahashi;T. Shirasawa;E. Arakawa;H. Toyokawa and H. Tajiri
• 通讯作者: H. Toyokawa and H. Tajiri

X線CTR散乱法によるBi/Bi2Te3トポロジカル絶縁体薄膜の界面構造解析

X射线CTR散射法分析Bi/Bi2Te3拓扑绝缘体薄膜界面结构

• 发表时间: 2013
• 作者: 白澤徹郎