课题基金 / 基金详情

Electron-spin-resonance characterization on interface defects at wide-gap semiconductor (SiC and GaN) MOS interfaces

Electron-spin-resonance characterization on interface defects at wide-gap semiconductor (SiC and GaN) MOS interfaces
宽禁带半导体(SiC 和 GaN)MOS 界面界面缺陷的电子自旋共振表征
批准号:
17H02781
负责人:
Umeda Takahide
金额:
$11.56万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份:
2017
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2017-04-01 至 2020-03-31

项目摘要

项目成果

相似基金

相关文献

中文摘要
翻译
点击翻译按钮获取中文摘要
英文摘要
期刊论文(0)
专著(0)
科研奖励(0)
会议论文
DOI: 10.1063/1.5041059
发表时间: 2018
期刊: Applied Physics Letters
影响因子: 4
作者: [T. Umeda, G.-W. Kim, T. Okuda, M. Sometani, T. Kimoto, S. Harada]
通讯作者: S. Harada
Carbon Pb center (the PbC center) at 4H-SiC(0001)/SiO2 interface
4H-SiC(0001)/SiO2 界面处的碳 Pb 中心(PbC 中心)
DOI: --
发表时间: 2019
期刊:
影响因子: --
作者: [T. Umeda, Y. Nakano, E. Higa, H. Yano, M. Sometani, S. Harada]
通讯作者: S. Harada
The PbC (carbon dangling bond) center at 4H-SiC(0001)/SiO2 interface: A first-principles study
4H-SiC(0001)/SiO2 界面上的 PbC(碳悬挂键)中心:第一性原理研究
DOI: --
发表时间: 2019
期刊:
影响因子: --
作者: [T. Kobayashi, T. Umeda, Y. Matsushita]
通讯作者: Y. Matsushita
DOI: 10.1063/1.4994241
发表时间: 2018-01
期刊: Applied Physics Letters
影响因子: 4
作者: [Yuta Abe;T. Umeda;M. Okamoto;R. Kosugi;S. Harada;M. Haruyama;W. Kada;O. Hanaizumi;S. Onoda;T. Ohshima]
通讯作者: Yuta Abe;T. Umeda;M. Okamoto;R. Kosugi;S. Harada;M. Haruyama;W. Kada;O. Hanaizumi;S. Onoda;T. Ohshima
26
    国内基金
    海外基金
    基于高k复合栅介质增强的不同晶向β-Ga2O3 MOS界面调控机理研究
    • 批准号:
      --
    • 项目类别:
      青年科学基金项目
    • 资助金额:
      30万元
    • 批准年份:
      2022
    • 负责人:
      贾一凡
    • 依托单位:
    基于热氧化“Si/AlN叠层”的SiC MOS界面态抑制方法研究
    • 批准号:
      52107190
    • 项目类别:
      青年科学基金项目(C类)
    • 资助金额:
      30.0万元
    • 批准年份:
      2021
    • 负责人:
      王雨薇
    • 依托单位: