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光電子ウエハースケールVLSIと光ブローバーの研究

光电晶圆级超大规模集成电路及光学板锤研究

基本信息

批准号：
22K18415
负责人：
渡邊実
金额：
$ 16.56万
依托单位：
Okayama University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Challenging Research (Pioneering)
财政年份：
2022
资助国家：
日本
起止时间：
2022-06-30 至 2025-03-31
项目状态：
未结题

项目摘要

近年、スーパーコンピュータ、データセンター、AIシステム等において、10万ノードを超える莫大な数の集積回路(VLSI)を１か所に集中し、運用する事例が増えてきている。もし、巨大なウエハー全てを1つのVLSIとして運用できれば、プロセッサ間の相互通信のレイテンシーやバンド幅を劇的に改善し、スーパーコンピュータ、データセンター、AIシステム等の高性能化が期待できる。しかし、現在の製造技術ではウエハー上に作られるVLSIチップの1～2割程度が不良チップとして廃棄されており、不良の無いウエハーを作ることができない。よって、既存の集積回路では不良で廃棄されるVLSIの割合をできるだけ小さくするために、ダイを小さく設計している。巨大なウエハーをそのまま使用するウエハースケールVLSIの実現は困難である。しかし、本研究ではどのような製造不良があっても構成機能だけは絶対に損なわれない光再構成技術を導入することでウエハースケールVLSIを実現していく。2022年度の研究ではまず0.18μmのCMOSプロセスを用いて光再構成機能を持つウエハースケールVLSIを設計し、その設計データを用いて製造不良が生じる不良割合がウエハースケールVLSI全体の機能に与える影響について明らかにした。また、製造されたウエハースケールVLSIを用いて故障への耐性を試験的に明らかにした。次年度にはウエハースケールVLSIの製造不良個所を短時間で正確に検出する技術、光プローバーの研究も開始し、ウエハースケールVLSIを実現する上での問題点、製造後の検査時間の問題の解決を目指す。

In recent years, in recent years, we have focused on the collection of circuits (VLSI) 1, the use of examples, and so on. In recent years, we have been focusing on the number of circuits (VLSI), such as the number of circuits, and so on. There are some high-performance devices, such as improvement, improvement, VLSI, AI, and so on, in terms of communication, communication, and so on. In recent years, there is a problem of poor VLSI performance and poor performance in manufacturing technology and technology. The device, the existing collection loop, the defective device, the VLSI, the device, the device. This is a great deal of trouble. Please use the VLSI to find that you are in trouble. In this study, in order to improve the quality of the system, the mechanism can be used to improve the performance of the technology. In this study, it is necessary to improve the accuracy of the system. In this study, we are in the process of causing problems in the field. In the year 2022, the research equipment is 0.18 μ m. The CMOS system uses light to reconstruct the machine. It is possible to use the equipment to design the VLSI device, the device to design the device, and the device to make the wrong device. The equipment is not suitable for the production of the equipment. The whole machine of the VLSI machine is used to verify the performance of the machine. Please tell me how to use the VLSI to make sure that the fault and patience are not correct. In the next year, we will make sure that the short-term operation of the VLSI manufacturing facility is correct, that the start of the research on optical training is correct, that the VLSI is able to realize the current problem point, and that the solution to the problem in the future is effective.

项目成果

期刊论文数量（0）

专著数量（0）

科研奖励数量（0）

会议论文数量（0）

专利数量（0）

Cf252 neutron soft error tolerance of an optoelectronic field programmable gate array VLSI

光电现场可编程门阵列VLSI的CF252中子软容错

DOI：
发表时间：
2022
期刊：
IEEE International Integrated Reliability Workshop
影响因子：
0
作者：
Blowes Shane A.;Daskalova Gergana N.;Dornelas Maria;Engel Thore;Gotelli Nicholas J.;Magurran Anne E.;Martins In?s S.;McGill Brian;McGlinn Daniel J.;Sagouis Alban;Shimadzu Hideyasu;Supp Sarah R.;Chase Jonathan M.;萩原学;前田圭介;Minoru Watanabe
通讯作者：
Minoru Watanabe

Total Dose Tolerance Analysis of an Optically Reconfigurable Gate Array VLSI

光学可重构门阵列 VLSI 的总剂量耐受性分析