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Multi-context scrubbing for radiation-hardened optoelectronic devices with 1 Grad TID tolerance

针对具有 1 Grad TID 容差的抗辐射光电器件进行多环境擦洗

基本信息

批准号：
21H03407
负责人：
渡邊実
金额：
$ 10.9万
依托单位：
Okayama University
依托单位国家：
日本
项目类别：
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份：
2021
资助国家：
日本
起止时间：
2021-04-01 至 2024-03-31
项目状态：
已结题

项目摘要

世界初となる順序回路のマルチコンテキストスクラビングの実証試験を実施した。スクラビング試験向けに4つのコンテキストを持つ光再構成型ゲートアレイのプロトタイプシステムを開発した。このプロトタイプシステムは4つの半導体レーザ、4つの記憶領域を持つホログラフィックメモリ、光再構成型ゲートアレイVLSIから構成される。ホログラフィックメモリには4つのコンテキストが記録され、それらがプログラマブルゲートアレイに対して動的に実装される。この光を用いた構成の周期は１マイクロ秒以下であり、FPGAの数百ミリ秒のシリアル構成とは比較にならない高速動的再構成が可能になる。この高速再構成の機能をスクラビングに適用すると非常に高いソフトエラー耐性が実現できる。加えて、マルチコンテキストを適用するマルチコンテキストスクラビングでは恒久故障からも同様に、システムを停止させること無く復旧させることができる。この度の実装では１ビットのカウンターを実装し、マルチコンテキストスクラビングの実証試験を行った。結果、マルチコンテキストスクラビングにおいて、ソフトエラーが生じても、恒久故障が生じても、動作を中断させること無くシステムの動作が維持できることを試験的に実証した。現在までに研究の核心的部分となる、世界初の順序回路のマルチコンテキストスクラビングの実証試験に成功している。今後は、Am241によるソフトエラー耐性試験、Co60によるトータルドーズ耐性試験を行い、総合的にマルチコンテキストスクラビングの有効性を評価していく。

At the beginning of the world, the sequence of circuits was implemented. The first step is to open a new configuration of the system. This category includes 4 semiconductor components, 4 memory components, and 4 optical components. The information is recorded in the record, and the information is recorded in the record. The period of the optical component is less than 1 second. The period of the FPGA component is less than 1 second. This high-speed reconstruction function is very suitable for high speed reconstruction. Add, add, add, add This is the first time I've ever seen a person who's been in a relationship with someone else. The result is that the failure of the system will occur, and the failure of the system will be maintained. Now the core part of the research is to successfully test the first sequence loop in the world. In the future, Am 241 and Co 60 will be tested for resistance to corrosion, and the effectiveness of the test will be evaluated.

项目成果

期刊论文数量（19）

专著数量（0）

科研奖励数量（0）

会议论文数量（0）

专利数量（0）

Cf252 neutron soft error tolerance of an optoelectronic field programmable gate array VLSI

光电现场可编程门阵列VLSI的CF252中子软容错

DOI：
发表时间：
2022
期刊：
IEEE International Integrated Reliability Workshop
影响因子：
0
作者：
Blowes Shane A.;Daskalova Gergana N.;Dornelas Maria;Engel Thore;Gotelli Nicholas J.;Magurran Anne E.;Martins In?s S.;McGill Brian;McGlinn Daniel J.;Sagouis Alban;Shimadzu Hideyasu;Supp Sarah R.;Chase Jonathan M.;萩原学;前田圭介;Minoru Watanabe
通讯作者：
Minoru Watanabe

Total Dose Tolerance Analysis of an Optically Reconfigurable Gate Array VLSI

光学可重构门阵列 VLSI 的总剂量耐受性分析