Ionenätzanlage zur Herstellung von Schnittpräparaten für die Elektronenmikroskopie

电子显微镜中的碎片分析可以通过探针的铁谱获得信息。Daher muss eine adäquate Präparationsmethode gewählt韦尔登，die ein ungestörtes，also Artefakt freies Profile erstelt.对于Proben，die nicht über ein großes Flächensegment homogen sind，lässt sich努尔durch gezieltes Präparieren die gewünschte Profilstelle darstellen。大北只能通过一个不完整的轮廓来确定韦尔登。如果你能把韦尔登的材料结合起来，就能把镀金的材料结合起来。B。Unterscheedlicher Härte，Sprödsports und Elastizität，eine Präparation durch klassisches Zielschleifen und mehrstufiges Polieren，nicht anwendbar machen.“

Die analytische Fragestellungen in der Elektronenmikroskopie beziehen sich erfahrungsgemäß in gut der Hälfte der Fälle auf eine Informationsgewinnung aus dem Tiefenprofil der Probe. Daher muss eine adäquate Präparationsmethode gewählt werden, die ein ungestörtes, also Artefakt freies Profil erstellt. Für Proben, die nicht über ein großes Flächensegment homogen sind, lässt sich nur durch gezieltes Präparieren die gewünschte Profilstelle darstellen. Dabei kann nur durch Einsatz von lonenstrahl-Ätzen ein ungestörtes Profil erstellt werden. Dies gilt insbesondere dann, wenn Proben präpariert werden sollen, die durch ihre Kombination von Materialien sehr unterschiedlicher Natur, z. B. unterschiedlicher Härte, Sprödheit und Elastizität, eine Präparation durch klassisches Zielschleifen und mehrstufiges Polieren, nicht anwendbar machen.“