Untersuchung der elektronischen und geometrischen Struktur von Wolframoxidclustern mit einem VUV-Freie-Elektronen-Laser

德国汉堡的自由电子激光器的辐射帮助下，质量分离器的结构得到了韦尔登。所有方法都将测试飞行光电光谱，并在标准激光实验室进行测试。对于Ge、Sn、W和Ta元素，具有相对较低的结合力的Innenschalenniveaus，其初始值是mglich sein，Innerschalenspektren von Massenseparrierten Scherterionen aufzunehmen。XPS在几何结构中设计了一个小块，这个实际操作不是实验性的。XPS Messungen是一个可靠的Wn-和reagierten WnOm-中间设备，钨合金上的Sauerstoff是一个很好的系统。在对新材料的研究中，我们发现了一种具有物理和化学特征的金属材料的几何结构。这些劳动者必须在一个拉曼地区的一个车间里安装一个韦尔登的FEL。对于XPS测量仪和氧化物，必须通过Einbau的“聚束”技术获得更高的强度韦尔登。

Die Struktur von massenseparierten Clusterionen soll mit Hilfe der Strahlung des Freien Elektronenlasers in Hamburg untersucht werden. Als Methode wird die Flugzeit-Photoelektronenspektroskopie verwendet und die im Vergleich zu Standard-Laserexperimenten höhere Photoenenergie eröffnet neue Perspektiven. Für die Elemente Ge, Sn, W und Ta, die Innenschalenniveaus mit relativ niedriger Bindungsenergie besitzten, wird es erstmals möglich sein, Innerschalenspektren von Massenseparierten Clusterionen aufzunehmen. XPS erlaubt einen Einblick in die geometrische Struktur, die sonst praktisch nicht experimentell zugänglich ist. Konkret sind XPS Messungen an reinen Wn- und reagierten WnOm- Clustern geplant, da Sauerstoff auf Wolframoberflächen ein gut bekanntes System ist. Weiterhin wurden in Vorstudien Hinweise auf eine Kopplung der geometrischen Struktur der WnOm- Clustern mit ihren physikalischen und chemischen Eigenschaften gefunden. Diese Arbeiten sollen an einer im Rahmen einer Kollaboration aufgebauten Clusterapparatur am FEL durchgeführt werden. Für die XPS-Messungen an den Oxiden muss die Clusterintensität durch Einbau einer zusätzlichen "Bunching"-Technik weiter gesteigert werden.