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Design-for-Test and Design-for-Reliability for Low Power STT-MRAM

Design-for-Test and Design-for-Reliability for Low Power STT-MRAM
低功耗 STT-MRAM 的测试设计和可靠性设计
批准号：
286543208
负责人：
Professor Mehdi B. Tahoori, Ph.D.
金额：
$0.0万
依托单位：
Institut für Technische Informatik
依托单位国家：
德国
项目类别：
Research Grants
财政年份：
2015
资助国家：
德国
项目状态：
已结题
起止时间：
2014-12-31 至 2021-12-31
来源：
https://gepris.dfg.de/gepris/projekt/286543208?language=en
关键词：
DesignTestReliabilityLowPower

项目摘要

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With the continuation of Moore s law, the microelectronics industry faces major challenges related to power dissipation and energy consumption in the next years. Therefore, it is a fundamental challenge and necessity to stop this trend, particularly for emerging low-power application domains such as the
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会议论文
VAET-STT: A variation aware estimator tool for STT-MRAM based memories
VAET-STT：基于 STT-MRAM 的存储器的变化感知估计工具
DOI： 10.23919/date.2017.7927221
发表时间： 2017
期刊： Design, Automation & Test in Europe Conference & Exhibition (DATE), 2017
影响因子： --
作者： [S. Mohanachandran Nair, R. Bishnoi, M. S. Golanbari, F. Oboril, M. B. Tahoori]
通讯作者： M. B. Tahoori
Design of Defect and Fault-Tolerant Nonvolatile Spintronic Flip-Flops
DOI： 10.1109/tvlsi.2016.2630315
发表时间： 2017-04
期刊： IEEE Transactions on Very Large Scale Integration (VLSI) Systems
影响因子： 2.8
作者： [R. Bishnoi;Fabian Oboril;M. Tahoori]
通讯作者： R. Bishnoi;Fabian Oboril;M. Tahoori
Process variation and temperature aware adaptive scrubbing for retention failures in STT-MRAM
DOI： 10.1109/aspdac.2018.8297306
发表时间： 2018-01
期刊： 2018 23rd Asia and South Pacific Design Automation Conference (ASP-DAC)
影响因子： --
作者： [Nour Sayed;S. Nair;R. Bishnoi;M. Tahoori]
通讯作者： Nour Sayed;S. Nair;R. Bishnoi;M. Tahoori
Leveraging Systematic Unidirectional Error-Detecting Codes for fast STT-MRAM cache
DOI： 10.1109/vts.2017.7928937
发表时间： 2017-04
期刊： 2017 IEEE 35th VLSI Test Symposium (VTS)
影响因子： --
作者： [Nour Sayed;Fabian Oboril;R. Bishnoi;M. Tahoori]
通讯作者： Nour Sayed;Fabian Oboril;R. Bishnoi;M. Tahoori
NeuroTest: Testing Solutions for Neuromorphic Circuits and Architectures
  • 批准号：
    429238884
  • 项目类别：
    Research Grants
  • 资助金额：
    $0.0万
  • 财政年份：
    2019
  • 负责人：
    Professor Mehdi B. Tahoori, Ph.D.
  • 依托单位：
    Institut für Technische Informatik
MRAM Based Design, Test and Reliability for ultra Low Power SoC
  • 批准号：
    284013114
  • 项目类别：
    Research Grants
  • 资助金额：
    $0.0万
  • 财政年份：
    2015
  • 负责人：
    Professor Mehdi B. Tahoori, Ph.D.
  • 依托单位：
    SPINTEC Laboratory
System-Physician-on-a-Chip (SPOC): Chip Health-Monitoring Infrastructure IP and Run-Time Adaptation
  • 批准号：
    269744693
  • 项目类别：
    Research Grants
  • 资助金额：
    $0.0万
  • 财政年份：
    2015
  • 负责人：
    Professor Mehdi B. Tahoori, Ph.D.
  • 依托单位：
    Institut für Technische Informatik
4Rs: Reliable and Recoverable Runtime Reconfigurable System
  • 批准号：
    215353172
  • 项目类别：
    Research Grants
  • 资助金额：
    $0.0万
  • 财政年份：
    2012
  • 负责人：
    Professor Mehdi B. Tahoori, Ph.D.
  • 依托单位：
    Institut für Technische Informatik
国内基金
海外基金
数字化生态赋能TEST融合型翻译人才培养模型构建与指标体系研究
  • 批准号：
    2023JJ50396
  • 项目类别：
    省市级项目
  • 资助金额：
    --
  • 批准年份：
    2023
  • 负责人：
    张薇
  • 依托单位：
    湘南学院
基于“Design-Build-Test”循环策略的新型紫色杆菌素组合生物合成研究
  • 批准号：
  • 项目类别：
    省市级项目
  • 资助金额：
    --
  • 批准年份：
    2021
  • 负责人：
  • 依托单位：
    南京师范大学
基于广义测量的多体量子态self-test的实验研究
  • 批准号：
    12104186
  • 项目类别：
    青年科学基金项目（C类）
  • 资助金额：
    30.0万元
  • 批准年份：
    2021
  • 负责人：
    边志浩
  • 依托单位：
    江南大学
破解高质量低费用确定型test-per-clock测试难题的新方法
  • 批准号：
    61804037
  • 项目类别：
    青年科学基金项目
  • 资助金额：
    24.0万元
  • 批准年份：
    2018
  • 负责人：
    刘铁桥
  • 依托单位：
    浙江财经大学