電界移動型量子ドットを用いた室温動作高速・超低消費電力単電子スイッチ素子の研究
電界移動型量子ドットを用いた室温動作高速・超低消費電力単電子スイッチ素子の研究
批准号:
18656089
负责人:
長谷川 英機
金额:
$2.3万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Exploratory Research
财政年份:
2006
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2006 至 --
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量子デバイスの消費電力は極低温では小さいが、室温では電子エネルギーの熱的広がりによるスイッチ特性のだれにより増大する。本研究では、「量子ドットの空間的位置を電界で制御しトンネル確率を制御する」という原理にもとづく「電界移動型量子ドット単電子分岐スイッチ」について、その原理を確認することと、その効果を妨げる表面準位を低減することを目的として研究を推進し、次の成果を得た(1)3つのショットキ・ラップゲートにより、AlGaAs/GaAs量子細線T型分岐上に、量子ドットと3つのトンネル障壁を形成した「単電子分岐スイッチ」を試作し、その動作を測定した。その結果、低温で通常の単電子トンネル理論よりも急峻なスイッチ特性が得られた。しかしその急峻さは温度の上昇と共に急激に消失した。(2)デバイスの特性を量子ドットを円形近似した単純な解析モデルにもとづき解析して実験特性と比較した結果、ドットの電界移動によるトンネル確率の指数関数的変調が急峻なスイッチ特性を実現することが、確認された。また温度上昇による特性の劣化の主な理由は、低温では凍結している分岐スイッチの表面準位が、室温に近づくほど活性化し、ドットの電界移動を妨げることにあることが判明した。(3)その後の研究の大半は、「シリコン界面制御層(Si ICL)」を用いた代表者らの表面不活性化技術を、種々のファセット面をもつAlGaAs/GaAs量子細線に適用可能とすることに費やされた。その結果、(001)面、(111)B面上でのSi膜のMBE成長機構が解明され,また厚さ1nm以下のSiN超薄膜バッファが、空気中でもSi ICL構造を安定に保護することが見出された。(4)さらに、将来のIII-V族半導体量子デバイスのゲート制御構造として、高誘電率Hf酸化膜をもつSi ICL MISゲートスタックを検討した。その結果フェルミ準位ピンニングが完全に除去され、界面準位密度の最小値として、10^<10>cm^<-2>eV^<-1>台の値を得られた。これは、将来の量子デバイスの研究開発に極めて有望な結果である。
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Recent Progress and Surface-Related Key Issues in III-V Semiconductor Nanoelectronics (invited)
III-V族半导体纳米电子学最新进展及表面相关关键问题(特邀)
DOI:
--
发表时间:
2007
期刊:
Journal of Korean Physical Society Vol.50, No.3
影响因子:
--
作者:
[Hyota, Nakahori, H.Hasegawa]
通讯作者:
H.Hasegawa
Dynamics and Control of Recombination Process at Semiconductor Surfaces, Interfaces and Nanostructure (invited)
半导体表面、界面和纳米结构复合过程的动力学与控制(特邀)
DOI:
--
发表时间:
2006
期刊:
Solar Energy Vol.80, No.6
影响因子:
--
作者:
[H.Hasegawa, T.Sato, S.Kasai, B.Adamowicz, T.Hashizume]
通讯作者:
T.Hashizume
Suppression of Device Interference Effects in GaAs Nanodevices by Surface Passivation using Si Interface Control Layer
使用 Si 界面控制层进行表面钝化抑制 GaAs 纳米器件中的器件干扰效应
DOI:
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发表时间:
2006
期刊:
J. Vac. Sci. Technol. B Vol.24, No.4
影响因子:
--
作者:
[R.Jia, N.Shiozaki, S.Kasai, H.Hasegawa]
通讯作者:
H.Hasegawa
Self-assembled formation of InP nanopore arrays by photoelectrochemical anodization in HCl based electrolyte
HCl基电解液中光电化学阳极氧化自组装形成InP纳米孔阵列
DOI:
--
发表时间:
2006
期刊:
Applied Surface Science Vol.252, No.15
影响因子:
--
作者:
[T.Sato, T.Fujino, H.Hasegawa]
通讯作者:
H.Hasegawa
Future of heterostructure microelectronics and roles of materials research for its progress (invited)
异质结构微电子学的未来以及材料研究对其进展的作用(特邀)
DOI:
--
发表时间:
2006
期刊:
IEICE Trans. Electron. Vol. E89-C, No. 7
影响因子:
--
作者:
[H. Hasegawa, S. Kasai, T. Sato, T. Hashizume]
通讯作者:
T. Hashizume
共 13 条
化合物半導体MIS界面準位に関するピンニング・スポット面内分布モデル
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批准号:20656006
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项目类别:Grant-in-Aid for Exploratory Research
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资助金额:$2.3万
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财政年份:2008
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负责人:長谷川 英機
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依托单位:
半導体2次元電子ガスのプラズマ波によるミリ波・テラヘルツ進行波デバイスの研究
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批准号:17656099
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项目类别:Grant-in-Aid for Exploratory Research
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资助金额:$2.24万
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财政年份:2005
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负责人:長谷川 英機
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依托单位:
単電子デバイスとその高密度集積化
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批准号:08247102
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas (A)
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资助金额:$12.93万
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财政年份:1996
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负责人:長谷川 英機
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依托单位:
単電子ナノエレクトロニクスの基礎
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批准号:07355001
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项目类别:Grant-in-Aid for Co-operative Research (B)
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资助金额:$1.66万
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财政年份:1995
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负责人:長谷川 英機
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依托单位:
単電子エレクロニクスの基礎
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批准号:06352015
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项目类别:Grant-in-Aid for Co-operative Research (B)
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资助金额:$1.54万
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财政年份:1994
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负责人:長谷川 英機
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依托单位:
化合物半導体-絶縁体界面の物性と応用に関する研究
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批准号:60065002
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项目类别:Grant-in-Aid for Specially Promoted Research
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资助金额:$173.57万
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财政年份:1985
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负责人:長谷川 英機
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依托单位:
電気化学的プロセスによる非晶質シリコン太陽電池の高性能化の研究
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批准号:59045004
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项目类别:Grant-in-Aid for Energy Research
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资助金额:$1.86万
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财政年份:1984
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负责人:長谷川 英機
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依托单位:
極微構造のための半導体表面および界面プロセスの研究
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批准号:59103001
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项目类别:Grant-in-Aid for Special Project Research
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资助金额:$7.94万
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财政年份:1984
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负责人:長谷川 英機
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依托单位:
化合物半導体集積回路基板の非破壊検査法と検査装置の試作に関する研究
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批准号:58850054
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项目类别:Grant-in-Aid for Developmental Scientific Research
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资助金额:$4.74万
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财政年份:1983
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负责人:長谷川 英機
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依托单位:
新しい2重膜ゲート MISFET を用いたInP系超高速集積回路の基礎的研究
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批准号:58460120
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项目类别:Grant-in-Aid for General Scientific Research (B)
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资助金额:$5.18万
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财政年份:1983
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负责人:長谷川 英機
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依托单位:
電気化学的プロセスによる低コスト高効率太陽電池の製作
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批准号:58045005
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项目类别:Grant-in-Aid for Energy Research
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资助金额:$1.28万
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财政年份:1983
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负责人:長谷川 英機
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依托单位:
極微構造のための化合物半導体表面および界面処理プロセスの研究
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批准号:58209001
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项目类别:Grant-in-Aid for Special Project Research
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资助金额:$1.66万
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财政年份:1983
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负责人:長谷川 英機
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依托单位:
電気化学的プロセスによる低コスト高効率太陽電池の製作
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批准号:57045005
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项目类别:Grant-in-Aid for Energy Research
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资助金额:$1.34万
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财政年份:1982
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负责人:長谷川 英機
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依托单位:
極微構造のための化合物半導体表面および界面処理プロセスの研究
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批准号:57217001
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项目类别:Grant-in-Aid for Special Project Research
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资助金额:$2.62万
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财政年份:1982
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负责人:長谷川 英機
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依托单位:
InP MISFETを用いた超高速ディジタル集積回路の基礎的研究
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批准号:57550182
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项目类别:Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
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资助金额:$1.6万
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财政年份:1982
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负责人:長谷川 英機
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依托单位:
電気化学的プロセスによる低コスト高効率MOS形太陽電池の製作
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批准号:56045007
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项目类别:Grant-in-Aid for Energy Research
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资助金额:$1.34万
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财政年份:1981
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负责人:長谷川 英機
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依托单位:
GaAs集積回路配線の特性解析と分布定数形新デバイスの製作
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批准号:56550205
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项目类别:Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
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资助金额:$1.34万
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财政年份:1981
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负责人:長谷川 英機
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依托单位:
化合物半導体を用いた超高速MOSFET集積回路の研究
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批准号:X00090----555120
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项目类别:Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
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资助金额:$1.54万
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财政年份:1980
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负责人:長谷川 英機
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依托单位:
電気化学的プロセスによる低コスト高効率MOS形太陽電池の製作
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批准号:X00024----505504
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项目类别:Grant-in-Aid for Energy Research
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资助金额:$1.22万
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财政年份:1980
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负责人:長谷川 英機
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依托单位:
化合物半導体を用いたMOS形光エレクトロニクス集積素子の研究
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批准号:X00090----455119
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项目类别:Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
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资助金额:$1.28万
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财政年份:1979
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负责人:長谷川 英機
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依托单位:
海外基金