Study on GaN-based vertical transistors using ScAlMgO4 substrates
Study on GaN-based vertical transistors using ScAlMgO4 substrates
批准号:
15K13963
负责人:
Suemitsu Tetsuya
金额:
$2.5万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Challenging Exploratory Research
财政年份:
2015
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
2015-04-01 至 2018-03-31
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Drain depletion length in InAlN/GaN MIS-HEMTs with slant field plates
具有倾斜场板的 InAlN/GaN MIS-HEMT 中的漏极耗尽长度
DOI:
--
发表时间:
2015
期刊:
影响因子:
--
作者:
[N. Yasukawa, S. Hatakeyama, T. Yoshida, T. Kimura, T. Matsuoka, T. Otsuji, and T. Suemitsu]
通讯作者:
and T. Suemitsu
Neutral beam etching for device isolation in AlGaN/GaN HEMTs
用于 AlGaN/GaN HEMT 器件隔离的中性束蚀刻
DOI:
10.1002/pssa.201600617
发表时间:
2017
期刊:
Physica Status Solidi A
影响因子:
--
作者:
[F. Hemmi, C. Thomas, Y. C. Lai, A. Higo, A. Guo, S. Warnock, J. A. del Alamo, S. Samukawa, T. Otsuji, T. Suemitsu]
通讯作者:
T. Suemitsu
MIT(米国)
麻省理工学院(美国)
DOI:
--
发表时间:
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
Halide vapor phase epitaxy of thick GaN films on ScAlMgO4 substrates and their self-separation for fabricating freestanding wafers
ScAlMgO4 衬底上 GaN 厚膜的卤化物气相外延及其用于制造独立式晶圆的自分离
DOI:
10.7567/apex.10.101001
发表时间:
2017
期刊:
Applied Physics Express
影响因子:
2.3
作者:
[Ohnishi Kazuki, Kanoh Masaya, Tanikawa Tomoyuki, Kuboya Shigeyuki, Mukai Takashi, Matsuoka Takashi]
通讯作者:
Matsuoka Takashi
Suppression of isolation leakage current in AlGaN/GaN HEMTs by neutral-beam etching
通过中性束蚀刻抑制 AlGaN/GaN HEMT 中的隔离漏电流
DOI:
--
发表时间:
2016
期刊:
影响因子:
--
作者:
[F. Hemmi, C. Thomas, Y.-C. Lai, A. Higo, A. Guo, S. Warnock, J. A. del Alamo, S. Samukawa, T. Otsuji, and T. Suemitsu]
通讯作者:
and T. Suemitsu
共 11 条
Study on N-polar GaN MIS-HEMTs for power devices
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批准号:19H02165
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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资助金额:$10.82万
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财政年份:2019
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负责人:Suemitsu Tetsuya
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依托单位:
Study on nitrogen-polar InGaAs-channel high electron mobility transistors
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批准号:16H04341
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
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资助金额:$10.65万
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财政年份:2016
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负责人:Suemitsu Tetsuya
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依托单位:
海外基金