A Study on Delay and Function Test for Core-Based System LSIs

基于核的系统LSI的延迟和功能测试研究

• 批准号: 11450143
• 负责人: YASUURA Hiroto
• 金额: $ 8.45万
• 依托单位: Kyushu University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
• 财政年份: 1999
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 1999 至 2001
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/en/grant/KAKENHI-PROJECT-11450143/
• 关键词: Core-Based Design; System LSIs; Testing; Testing Time; BIST; External Testing; Performance Test; Dispersion of delay; コアベースシステム; CBET

Recent significant advances in LSI technologies have been increasing the number of transistors on a chip dramatically. System designers can now build a large system on a single chip as a system-on-a-chip (SOC). They often use multiple pre-designed and pre-verified blocks to reduce the time required for design and verification. These cores include black-boxed cores whose details are unknown due to the protection of intellectual property (IP) information. The importance of testing the function and performance has been increasing as the LSI technologies have been increasing.We proposed function and performance test methods for Core-Based System LSIs. We proposed a function test method named as CBET (Combination of BIST and External Test) scheme. We theoretically and experimentally validated that the CBET scheme can reduce much testing time. We also proposed a performance test method in which the delay time at a node is treated stochastically. This method can reduce extra margins of the delay time and therefore can estimate the performance for LSIs accurately.

LSI 技术最近取得的重大进展极大地增加了芯片上晶体管的数量。系统设计人员现在可以在单芯片上构建大型系统作为片上系统 (SOC)。他们经常使用多个预先设计和预先验证的模块来减少设计和验证所需的时间。这些内核包括黑盒内核，由于知识产权 (IP) 信息的保护，其详细信息未知。随着LSI技术的不断进步，功能和性能测试的重要性也越来越大。我们提出了基于核的系统LSI的功能和性能测试方法。我们提出了一种称为CBET（BIST和外部测试的组合）方案的功能测试方法。我们从理论上和实验上验证了 CBET 方案可以减少大量的测试时间。我们还提出了一种性能测试方法，其中节点的延迟时间被随机处理。该方法可以减少延迟时间的额外余量，因此可以准确地估计LSI的性能。

项目成果

M. Sugihara, H. Yasuura: "A Novel Test Technique in the SOC Era"IPSJ Journal. Vol. 42, no. 3. 409-418 (2001)

M. Sugihara、H. Yasuura：“SOC 时代的新颖测试技术”IPSJ 期刊。

杉原 真, 安浦 寛人: "システムLSI時代における新テスト技術"情報処理学会論文誌. 第42巻第3号. 409-418 (2001)

Makoto Sugihara、Hiroto Yasuura：“系统 LSI 时代的新测试技术”日本信息处理学会杂志，第 42 卷，第 3. 409-418 期（2001 年）。

V.Iyenger, H.Date, M.Sugihara, K.Chakrabarty: "Hierarchical intellectual property protection using partially-mergeable cores"EICE Transactions on Fundamentals of Electronics, Communications and Computer Sciences. vol.E84-A, no.11. 2632-2638 (2001)

V.Iyenger、H.Date、M.Sugihara、K.Chakrabarty：“使用部分可合并核心的分层知识产权保护”EICE 电子、通信和计算机科学基础交易。

M.Sugihara,H.Date,and H.Yasuura: "Analysis and Minimization of Test Time in a Combined BIST and External Test Approach"Proc. of Design Automation and Test in Europe (DATE2000). 134-140 (2000)

M.Sugihara、H.Date 和 H.Yasuura：“BIST 和外部测试组合方法中测试时间的分析和最小化”Proc。

溝口大介,杉原真,安浦寛人: "ゲート遅延分布を用いた性能テスト手法"情報処理学会DAシンポジウム2000論文集. 173-178 (2000)

Daisuke Mizoguchi、Makoto Sugihara、Hiroto Yasuura：“使用门延迟分布的性能测试方法”日本信息处理学会 DA 研讨会 2000 年论文集 173-178 (2000)。