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Study on fully digital ratio-less SRAM design for avoiding the variability and aging effects of device characteristics
避免器件特性变异和老化影响的全数字无比率SRAM设计研究
基本信息
- 批准号：24560408
- 负责人：
- 金额：$ 3.41万
- 依托单位：
- 依托单位国家：日本
- 项目类别：Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
- 财政年份：2012
- 资助国家：日本
- 起止时间：2012-04-01 至 2015-03-31
- 项目状态：已结题
- 来源：
- 关键词：
项目摘要
项目成果
期刊论文数量（0）
专著数量（0）
科研奖励数量（0）
会议论文数量（0）
专利数量（0）
A Measurement of Ratio-less 12-transistor SRAM cell Operation at Ultra-low Supply-voltage
超低电源电压下无比率 12 晶体管 SRAM 单元操作的测量
- DOI：
- 发表时间：2014
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：T. Kondo;H. Yamamoto;H. Imi;H. Okamura;K. Nakamura
- 通讯作者：K. Nakamura
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- DOI：10.7567/jjap.54.04dd11
- 发表时间：2015
- 期刊：
- 影响因子：1.5
- 作者：Takahiro Kondo;Hiromasa Yamamoto;Satoko Hoketsu;Hitoshi Imi;Hitoshi Okamura;Kazuyuki Nakamura
- 通讯作者：Kazuyuki Nakamura
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- DOI：
- 发表时间：2013
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：Hitoshi Okamura;Takahiko Saito;Hiroaki Goto;Masahiro Yamamoto and Kazuyuki Nakamura
- 通讯作者：Masahiro Yamamoto and Kazuyuki Nakamura
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- DOI：
- 发表时间：2014
- 期刊：
- 影响因子：0
- 作者：T. Kondo;H. Yamamoto;H. Imi;H. Okamura;K. Nakamura;伊見 仁，徳丸 翔吾，岡村 均，中村 和之
- 通讯作者：伊見 仁，徳丸 翔吾，岡村 均，中村 和之
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