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Time-Dependent Variability: A test-proven modelling approach for systems verification and power consumption minimization

随时间变化：经过测试验证的系统验证和功耗最小化建模方法

基本信息

批准号：
EP/L010607/1
负责人：
Jian Zhang
金额：
$ 65.96万
依托单位：
Liverpool John Moores University
依托单位国家：
英国
项目类别：
Research Grant
财政年份：
2014
资助国家：
英国
起止时间：
2014 至无数据
项目状态：
已结题

来源：
https://gtr.ukri.org/projects?ref=EP%2FL010607%2F1
关键词：
Time Dependent Variability test proven

项目摘要

Abstracts are not currently available in GtR for all funded research. This is normally because the abstract was not required at the time of proposal submission, but may be because it included sensitive information such as personal details.

目前GtR中并没有所有资助研究的摘要。这通常是因为在提交提案时不需要摘要，但也可能是因为摘要中包含个人详细信息等敏感信息。

项目成果

期刊论文数量（10）

专著数量（0）

科研奖励数量（0）

会议论文数量（0）

专利数量（0）

Random-telegraph-noise-enabled true random number generator for hardware security.

启用了硬件安全性的随机传播效果启用的真实随机数生成器。

DOI：
10.1038/s41598-020-74351-y
发表时间：
2020-10-14
期刊：
Scientific reports
影响因子：
4.6
作者：
Brown J;Zhang JF;Zhou B;Mehedi M;Freitas P;Marsland J;Ji Z
通讯作者：
Ji Z

Hot carrier aging and its variation under use-bias: Kinetics, prediction, impact on Vdd and SRAM

DOI：
10.1109/iedm.2015.7409742
发表时间：
2015-12
期刊：
2015 IEEE International Electron Devices Meeting (IEDM)
影响因子：
0
作者：
M. Duan;J. F. Zhang;A. Manut;Z. Ji;W. Zhang;A. Asenov;L. Gerrer;D. Reid;H. Razaidi;D. Vigar;V. Chandra;R. Aitken;B. Kaczer;G. Groeseneken
通讯作者：
M. Duan;J. F. Zhang;A. Manut;Z. Ji;W. Zhang;A. Asenov;L. Gerrer;D. Reid;H. Razaidi;D. Vigar;V. Chandra;R. Aitken;B. Kaczer;G. Groeseneken

Key Issues and Solutions for Characterizing Hot Carrier Aging of Nanometer Scale nMOSFETs

表征纳米级 nMOSFET 热载流子老化的关键问题和解决方案

DOI：
10.1109/ted.2017.2691008
发表时间：
2017
期刊：
IEEE Transactions on Electron Devices
影响因子：
3.1
作者：
Duan M
通讯作者：
Duan M

Experimental Evidence Toward Understanding Charge Pumping Signals in 3-D Devices With Poly-Si Channel

DOI：
10.1109/ted.2014.2313038
发表时间：
2014-04
期刊：
IEEE Transactions on Electron Devices
影响因子：
3.1
作者：
B. Tang;Weidong Zhang;M. Toledano-Luque;J. Zhang;R. Degraeve;Z. Ji;A. Arreghini;G. Van den bosch;J. van Houdt
通讯作者：
B. Tang;Weidong Zhang;M. Toledano-Luque;J. Zhang;R. Degraeve;Z. Ji;A. Arreghini;G. Van den bosch;J. van Houdt

Insight Into Electron Traps and Their Energy Distribution Under Positive Bias Temperature Stress and Hot Carrier Aging

DOI：
10.1109/ted.2016.2590946
发表时间：
2016-09-01
期刊：
IEEE TRANSACTIONS ON ELECTRON DEVICES
影响因子：
3.1
作者：
Duan, Meng;Zhang, Jian Fu;Kaczer, Ben
通讯作者：
Kaczer, Ben

DOI：
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作者：
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作者：
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Jian Zhang其他文献

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DOI：
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2011
期刊：
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0
作者：
K. Hu;Xiongqi Peng;Jun Chen;H. Lu;Jian Zhang
通讯作者：
Jian Zhang

COAST: COntrollable Arbitrary-Sampling NeTwork for Compressive Sensing

COAST：用于压缩感知的可控任意采样网络

DOI：
10.1109/tip.2021.3091834
发表时间：
2021-06
期刊：
IEEE Transactions on Image Processing (TIP)
影响因子：
0
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通讯作者：
Siwei Ma

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影响因子：
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DOI：
发表时间：
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期刊：
影响因子：
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通讯作者：
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影响因子：
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作者：
Jing Li;Yin Liu;Dan Zhan;Yongjin Zou;Fen Xu;Lixian Sun;Cuili Xiang;Jian Zhang
通讯作者：
Jian Zhang