半導体表面における光CVDプロセスの初期過程の原子レベル構造解析
半導体表面における光CVDプロセスの初期過程の原子レベル構造解析
批准号:
03239201
负责人:
橋詰 富博
金额:
$1.47万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
财政年份:
1991
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
1991 至 --
中文摘要
本研究に用いたFI‐STMは、Si(111)面上の原子状水素吸着、Si(111) 及びSi(100)面上のアルカリ金属(Li,K,Cs)吸着、Si(100)面における“2X8"高温相などの研究により、分解能、安定性には高い評価を得ている。また、RHEEDとSTMを伴用したSi(111)上SiのMBE成長の構造解析も行なっておりシリコン上の吸着物、薄膜のSTM観察には十分の経験があった。本年度は本研究の一環として走査トンネル分光法(STS)用の制御系・測定系・プログラムを改良し、安定性・再現性のあるSTSを開発し、これを用いて、Si(111)7x7,Si(100)2x1におけるアルカリ金属(主にNaとK)吸着による表面電子状態の変化をしらべ,アルカリ金属とSi(100),Si(111)基板間の電荷の移動の様子を明かにした。このSTSにより、個々の吸着に於る電子状態を調べるうえで、他の手法では得られない重要な知見を得ることができる。更に、Si(100)2x1表面に於る原子状水素について詳細に研究を行っている。原子状水素はSi(100)表面では、ダイマ-の2個のダングリングボンドにひとつづつの水素原子が吸着したモノハイドライド相と、ダイマ-を構成するSi原子間の結合を切って1つのSiに2個づつの水素原子が吸着したダイハイドライド相が知られていたが、それらのSTM/STSを観察するとともに、光CVDプロセスをSTMで観察する上で重要であると考えられる初期吸着過程もSTMによりしらべ、その吸着構造を決定するとともに、この実験により、光CVDプロセスにおける副産物として水素原子がSi(100)表面に存在する場合にも、STMにより観察・同定が可能であることが明らかになった。
英文摘要
本研究に用いたFI‐STMは、Si(111)面上の原子状水素吸着、Si(111) 及びSi(100)面上のアルカリ金属(Li,K,Cs)吸着、Si(100)面における“2X8"高温相などの研究により、分解能、安定性には高い評価を得ている。また、RHEEDとSTMを伴用したSi(111)上SiのMBE成長の構造解析も行なっておりシリコン上の吸着物、薄膜のSTM観察には十分の経験があった。本年度は本研究の一環として走査トンネル分光法(STS)用の制御系・測定系・プログラムを改良し、安定性・再現性のあるSTSを開発し、これを用いて、Si(111)7x7,Si(100)2x1におけるアルカリ金属(主にNaとK)吸着による表面電子状態の変化をしらべ,アルカリ金属とSi(100),Si(111)基板間の電荷の移動の様子を明かにした。このSTSにより、個々の吸着に於る電子状態を調べるうえで、他の手法では得られない重要な知見を得ることができる。更に、Si(100)2x1表面に於る原子状水素について詳細に研究を行っている。原子状水素はSi(100)表面では、ダイマ-の2個のダングリングボンドにひとつづつの水素原子が吸着したモノハイドライド相と、ダイマ-を構成するSi原子間の結合を切って1つのSiに2個づつの水素原子が吸着したダイハイドライド相が知られていたが、それらのSTM/STSを観察するとともに、光CVDプロセスをSTMで観察する上で重要であると考えられる初期吸着過程もSTMによりしらべ、その吸着構造を決定するとともに、この実験により、光CVDプロセスにおける副産物として水素原子がSi(100)表面に存在する場合にも、STMにより観察・同定が可能であることが明らかになった。
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T.Hashizume: "“FI‐STM Study of Alkali Metal Adsorption on the Si Surfaces"" Surf.Sci.246. 189-194 (1991)
T.Hashizume:“硅表面碱金属吸附的 FI-STM 研究”Surf.Sci.246 (1991)。
DOI:
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发表时间:
期刊:
影响因子:
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作者:
[]
通讯作者:
T.Hashizume: "“Alkali Metal Adsorption on the Si(111)7x7 Surface,"" J.Vac.Sci.Technol.B9. 745-747 (1991)
T.Hashizume:“Si(111)7x7 表面上的碱金属吸附”,J.Vac.Sci.Technol.B9.745-747 (1991)
DOI:
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发表时间:
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
X.D.Wang: "“FI‐STM investigation of atomic‐hydrogen adsorption on the Si(100)2x1 surface,"" Phys.Rev.B.
X.D.Wang:“Si(100)2x1 表面上原子氢吸附的 FI-STM 研究”,Phys.Rev.B。
DOI:
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发表时间:
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
K.Motai: "“FI‐STM study of Na on the Si(100)2x1,"" Jpn.J.Appl.Phys.31. (1992)
K.Motai:“Na 在 Si(100)2x1 上的 FI-STM 研究”,Jpn.J.Appl.Phys.31。
DOI:
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发表时间:
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
金属フラーレンの金属・半導体表面における吸着構造と電子状態
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批准号:06224201
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
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资助金额:$1.28万
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财政年份:1994
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负责人:橋詰 富博
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依托单位:
金属フラーレンの金属・半導体表面における吸着構造と電子状態
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批准号:05233202
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
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资助金额:$1.09万
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财政年份:1993
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负责人:橋詰 富博
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依托单位:
FI-STMによる新機能発現の基礎研究(金属表面の触媒機構)
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批准号:04205012
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research on Priority Areas
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资助金额:$1.28万
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财政年份:1992
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负责人:橋詰 富博
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依托单位:
低温STMによるシリコン(100)清浄表面及び吸着表面の研究
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批准号:03455004
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项目类别:Grant-in-Aid for General Scientific Research (B)
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资助金额:$4.16万
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财政年份:1991
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负责人:橋詰 富博
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依托单位:
シリコン(100)表面におけるアルカリ金属の吸着構造と電子状態の吸着量依存性
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批准号:02650004
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项目类别:Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
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资助金额:$1.41万
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财政年份:1990
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负责人:橋詰 富博
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依托单位:
走査トンネル顕微鏡による,シリコン(100)面における銀の薄膜形成の初期過程
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批准号:01750005
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项目类别:Grant-in-Aid for Encouragement of Young Scientists (A)
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资助金额:$0.64万
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财政年份:1989
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负责人:橋詰 富博
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依托单位:
国内基金
海外基金
光CVD非晶硅簿膜制备,机理和性能研究
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批准号:18670751
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项目类别:面上项目
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资助金额:2.5万元
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批准年份:1986
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负责人:陈存礼
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依托单位: