STUDIES ON QUANTUM EFFECT DEVICE MODELING BASED ON DEVICE STRUCTURE AND FUNCTIONAL CIRCUITS
STUDIES ON QUANTUM EFFECT DEVICE MODELING BASED ON DEVICE STRUCTURE AND FUNCTIONAL CIRCUITS
批准号:
08455167
负责人:
TANIGUCHI Kenji
金额:
$2.69万
依托单位:
依托单位国家:
日本
项目类别:
Grant-in-Aid for Scientific Research (B)
财政年份:
1996
资助国家:
日本
项目状态:
已结题
起止时间:
1996 至 1997
中文摘要
为了建立基于量子效应器件(如hemt和RTD器件)的功能电路设计方法,我们研究了基于物理结构的量子效应器件建模电路仿真,并设计了自顶向下大规模集成电路设计的hemt单元库。我们还设计了以高速锁相环为核心的功能电路。得到了以下结果:基于物理结构的器件建模将前人提出的基于物理结构的器件建模应用到电路仿真模型中。结果表明,该方法适用于电路仿真。为了使器件结构更加多样化,引入了器件模拟器。建立了利用器件仿真估计器件特性和电路模型的方法。研究了采用rtd / hemt堆叠结构的多基元栅极功能电路。与传统的DCFL门相比,Rtd / hemt门具有更高的速度和更低的功耗特性。设计了一种具有快速拉入特性的三模锁相环,采用0.3 μ m的hemt技术进行了设计和仿真。结果表明,所设计的锁相环在1v直流电源下工作频率可达2.2 GHZ。针对hemt动态电路实现更高的速度和更低的功耗,利用cmos技术进行了初步的研究。采用量子效应器件进行自顶向下设计,采用hemt器件进行自顶向下集成电路设计,设计了与功能cmos芯片库相对应的芯片库。电池库有49个基本电池,电源电压为1v。利用该单元库设计了verilog-hdl测试电路,并进行了验证。建立了与传统cmos向下设计相兼容的基本设计环境。
英文摘要
IN ORDER TO ESTABLISH DESIGN METHDOLOGY OF FUNCTIONAL CIRCUITS USING QUANTUM EFFCT DEVICES SUCH AS HEMT AND RTD DEVICES,WE HAVE STUDIED QUANYUM EFFECT DEVICE MODELING FOR CIRCUIT SIMULATION BASED ON PHYSICAL STRUCTURE,AND DESIGNED HEMT CELL LIBRARY FOR TOP-DOWN LSI DESIGN.AND WE HAVE ALSO DESIGNED FUNCTIONAL CIRCUITS FOCUSED ON HIGH-SPEED PLL.THE FOLLOWING RESULTS ARE OBTAINED.1.PHYSICAL STRUCTURE BASED DEVICE MODELINGTHE DEVICE MODELING BASED ON PHYSICAL STRUCTURE PREVIOUSLY PROPOSED BY THE INVESTIGATORS ARE APPLIED TO CIRCUIT SIMULATION MODEL.THE RESULTS SHOW THAT IT IS APPLICAPABLE TO CIRCUIT SIMULATION.FOR MORE WIDE VARIETY OF DEVICE STRUCTURE,DEVICE SIMULATOR IS INTRODUCED.THE METHOD TO ESTIMATE DEVICE CHARACTERISTICS AND CIRCUIT MODEL WITH DEVICE SIMULATION IS ESTABLISHED.2.FUNCTIONAL CIRCUITS FOR PLLPRIMITIVE GATES USING RTD/HEMT STACK STRUCTURE ARE INVESTIGATED.RTD/HEMT GATES HAVE HIGHER SPEED AND LOWER POWER CONSUMPTION CHARACTERISTICS COMPARED WITH CONVENTIONAL DCFL GATES.AND A 3-MODE PLL WHICH HAS FAST PULL-IN CHARACTERISTICS IS DESIGNED IN 0.3UM HEMT TECHNOLOGY IS DESIGNED AND SIMULATED.IT IS CONFIRMED THAT THE DESIGNED PLL CAN OPERATE UP TO 2.2 GHZ AT 1V DC POWER SUPPLY.AIMING ACHIEVE HIGHER SPEED AND LOWER POWER BY HEMT DYNAMIC CIRCUITS,PRELIMINARY INVESTIGATION ARE CARRIED OUT BY CMOS TECHNOLOGY.3.TOP-DOWN DESIGN USING QUANTUM EFFECT DEVICESFOR TOP-DOWN LSI DESIGN USING HEMT DEVICE,CELL LIBRARY CORRESPONDING TO FUNCTIONAL CMOS CELL LIBRARY IS DESIGNED.THE CELL LIBRARY HAS 49 BASIC CELLS WITH 1V POWER SUPPLY VOLTAGE.USING THIS CELL LIBRARY TEST CIRCUITS ARE DESIGNED BY VERILOG-HDL AND CONFIRMED.BASIC DESIGN ENVIRONMENT COMPATIBLE WITH CONVENTIONAL CMOS TO-DOWN DESIGN IS ESTABLISHED FOR HEMT LSI.
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YOUSUKE KUDOU: "HEMT DEVICE CHARACTERISTICS CALCULATION AND MODELING BASED ON DEVICE STRUCTURE" RESEARCH REPORTS ON ISEE,KYUSHU UNIVERSITY. (IN PRINT). 6 (1998)
YOUSUKE KUDOU:《基于器件结构的HEMT器件特性计算与建模》九州大学ISEE研究报告。
DOI:
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发表时间:
期刊:
影响因子:
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作者:
[]
通讯作者:
Ikuo Seki: "A Design of First-Order Delay-Line DPLL in 1.2um CMOS Technology" Research Reports on ISEE,Kyushu University. 1・1. 45-50 (1996)
Ikuo Seki:“1.2um CMOS 技术中的一阶延迟线 DPLL 的设计”ISEE 的研究报告,九州大学 1・1(1996 年)。
DOI:
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发表时间:
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
Hiroyasu Yoshizawa: "A Low Power 622MHz CMOS Phase-Locked Loop with Source-coupled VCO and Dynamic PFD" IEICE Transaction on Fundamentals. E80-A・6. 1015-1020 (1997)
Hiroyasu Yoshizawa:“具有源耦合 VCO 和动态 PFD 的低功耗 622MHz CMOS 锁相环”IEICE E80-A・6 基础知识 (1997)。
DOI:
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发表时间:
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
Ikuo Seki: "A Design of First-Order Delay-Line DPLL in 1.2um CMOS Technology" Research Reports on ISEE,Kyushu University. 1. 45-50 (1996)
Ikuo Seki:《A Design of First Order Delay-Line DPLL in 1.2um CMOS Technology》九州大学ISEE研究报告。
DOI:
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发表时间:
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
工藤 洋介: "構造設計に基づくHEMTの特性計算とモデリングの計算" 九州大学院システム情報科学研究科報告. 3(印刷中). (1998)
工藤洋介:“基于结构设计的HEMT的特性计算和建模计算”九州研究生院系统与信息科学研究生院报告3(出版中)。
DOI:
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发表时间:
期刊:
影响因子:
--
作者:
[]
通讯作者:
共 16 条
The origin of the cultivated Chrisanthemum
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批准号:23580008
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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资助金额:$3.49万
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财政年份:2011
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负责人:TANIGUCHI Kenji
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依托单位:
Development of integrated data assimilation technique by using satellite and X-band MP Radar observation
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批准号:22686045
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项目类别:Grant-in-Aid for Young Scientists (A)
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资助金额:$13.56万
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财政年份:2010
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负责人:TANIGUCHI Kenji
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依托单位:
Development of cloud microphysics data assimilation system with integrated use of multiple satellite observation products
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批准号:20760323
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项目类别:Grant-in-Aid for Young Scientists (B)
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资助金额:$2.58万
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财政年份:2008
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负责人:TANIGUCHI Kenji
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依托单位:
Construction and classification of systems of multi-variable commutative differential operators
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批准号:19540226
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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资助金额:$2.58万
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财政年份:2007
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负责人:TANIGUCHI Kenji
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依托单位:
Geometric invariants of representations and the Whittaker models
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批准号:15540183
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项目类别:Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
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资助金额:$1.98万
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财政年份:2003
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负责人:TANIGUCHI Kenji
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依托单位:
Research on Functional Devices Utilizing Single Electron Tunneling Phenomena
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批准号:05452188
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项目类别:Grant-in-Aid for General Scientific Research (B)
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资助金额:$4.99万
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财政年份:1993
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负责人:TANIGUCHI Kenji
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依托单位:
Study of Random Telegraph Noise in Ultra Small MOSFET and its Reliability
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批准号:01550248
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项目类别:Grant-in-Aid for General Scientific Research (C)
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资助金额:$1.28万
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财政年份:1989
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负责人:TANIGUCHI Kenji
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依托单位:
国内基金
海外基金
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异质结极化场局域调控机制与选区外延p-GaN HEMT研究
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批准号:
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项目类别:省市级项目
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资助金额:--
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批准年份:2025
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负责人:沈竞宇
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依托单位:
图形化衬底调控极端电应力下硅基氮化
镓HEMT器件位错缺陷的形成演化机制研
究
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批准号:
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项目类别:省市级项目
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资助金额:10.0万元
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批准年份:2025
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负责人:江希
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依托单位:
面向无人机应用的增强型p-gate
AlGaN/GaN HEMT高功率微波辐射效应及
机理研究
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批准号:
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项目类别:省市级项目
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资助金额:10.0万元
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批准年份:2025
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负责人:何亮
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依托单位:
AlGaN/GaN HEMT射频器件ESD应力下损伤机理研究
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批准号:
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项目类别:省市级项目
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资助金额:--
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批准年份:2024
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负责人:叶然
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依托单位:
基于多物理场的GaN HEMT与高频变换器参数性能优化研究
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批准号:
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项目类别:省市级项目
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资助金额:--
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批准年份:2024
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负责人:
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依托单位:
基于Syk靶点应用HEMT传感技术筛选二陈汤中抗过敏活性成分
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批准号:
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项目类别:省市级项目
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资助金额:--
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批准年份:2024
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负责人:
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依托单位:
全外延ScAlN薄膜及其HEMT结构的铁电极化调控研究
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批准号:62374002
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项目类别:面上项目
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资助金额:48万元
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批准年份:2023
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负责人:王平
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依托单位:
基于π形栅的p-GaN HEMT阈值电压负向漂移抑制技术研究
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批准号:62374003
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项目类别:面上项目
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资助金额:55万元
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批准年份:2023
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负责人:王茂俊
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依托单位:
飞秒脉冲激光诱导GaN HEMT在功率运行工况下的单粒子效应机理研究
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批准号:62304102
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项目类别:青年科学基金项目
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资助金额:30万元
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批准年份:2023
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负责人:周峰
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依托单位:
增强型HEMT中p-GaN栅双结的强场、高频物性匹配及其加固方法研究
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批准号:62304242
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项目类别:青年科学基金项目
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资助金额:30万元
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批准年份:2023
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负责人:钟耀宗
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依托单位: