Study of the property of low-defect-density quantum dots for the purpose of developing high efficiency optical devices.

研究低缺陷密度量子点的特性，以开发高效光学器件。

• 批准号: 23560354
• 负责人: OKAMOTO Hiroshi
• 金额: $ 2万
• 依托单位: Hirosaki University
• 依托单位国家: 日本
• 项目类别: Grant-in-Aid for Scientific Research (C)
• 财政年份: 2011
• 资助国家: 日本
• 起止时间: 2011 至 2013
• 项目状态: 已结题
• 来源: https://kaken.nii.ac.jp/grant/KAKENHI-PROJECT-23560354/
• 关键词: 量子ドット; サーファクタント; DLTS; DLTS法

Quantum dots (QDs) have a potential to improve the performance of various semiconductor devices. We have reported a novel growth method for In(Ga)As QDs using bismuth (Bi) as a surfactant, and their superior optical qualities. For the purpose of clarifying the mechanism of appearing the excellent quality, we have evaluated the QDs mainly using DLTS (Deep Level Transient Spectroscopy) method. We have successfully observed the unique DLTS signals, which are caused by the emission of captured carriers, and revealed that the densities of traps caused by point defects or dislocations are very low in the QD samples.

量子点（QD）具有改善各种半导体器件的性能的潜力。我们报道了一种以铋为表面活性剂的In（Ga）As量子点生长方法及其优良的上级光学性能。为了阐明量子点表现出优异品质的机制，我们主要采用深能级瞬态谱（DLTS）方法对量子点进行了评价。我们已经成功地观察到独特的DLTS信号，这是由捕获的载流子的发射所引起的，并揭示了由点缺陷或位错引起的陷阱的密度在QD样品中是非常低的。

项目成果

Biサーファクタントを用いたGeナノドットの低温形成

使用 Bi 表面活性剂低温形成 Ge 纳米点

• 发表时间: 2014
• 作者: 岡本浩;林一稀;小林弓華;俵毅彦;舘野功太;章国強;後藤秀樹
• 通讯作者: 後藤秀樹

Biｻｰﾌｧｸﾀﾝﾄを用いたIn(Ga)As量子ﾄﾞｯﾄのDLTS評価

使用 Bi 表面活性剂对 In(Ga)As 量子点进行 DLTS 评估

• 作者: 加藤光祐;冨田睦雄;道木慎二;大熊繁;加藤真二;鈴木聡一郎，岡本浩，舘野功太，俵毅彦，後藤秀樹，寒川哲臣
• 通讯作者: 鈴木聡一郎，岡本浩，舘野功太，俵毅彦，後藤秀樹，寒川哲臣

Distinctive Feature of Ripening During Growth Interruption of InGaAs Quantum Dot Epitaxy Using Bi as a Surfactant

Bi作为表面活性剂的InGaAs量子点外延生长中断过程中成熟的显着特征

• DOI: 10.1143/jjap.50.06gh07
• 发表时间: 2011
• 期刊: Jpn. J. Appl. Phys
• 作者: H. Okamoto;T. Tawara;T. Tateno;H. Gotoh;H. Kamada;and T. Sogawa
• 通讯作者: and T. Sogawa

In(Ga)As積層量子ドット構造のDLTS評価

In(Ga)As堆叠量子点结构的DLTS评估

• 发表时间: 2011
• 作者: 鈴木聡一郎;佐藤真哉;岩崎拓郎;俵毅彦;舘野功太;後藤秀樹,寒川哲臣,岡本浩
• 通讯作者: 後藤秀樹,寒川哲臣,岡本浩

In(Ga)As積層量子ドット構造におけるキャリア注入/放出特性のDLTS評価

In(Ga)As堆叠量子点结构载流子注入/发射特性的DLTS评估

• 发表时间: 2011
• 作者: 鈴木聡一郎;佐藤真哉;岩崎拓郎;俵毅彦;舘野功太;後藤秀樹;寒川哲臣;岡本浩
• 通讯作者: 岡本浩